粉體行業在線展覽
DTSP10-03
5-10萬元
日本ncc
DTSP10-03
577
不限
產品特點
粒徑測量范圍:可對10μm以上的粗大粒子進行分級計量。
粒徑區分:10μm、30μm、50μm、100μm,11~99μm范圍內可以設定數值。
晶片尺寸:使用4英寸晶片進行采樣。
最大測試范圍:Ф80mm。
Trimming功能:具備Trimming功能,可進行更精確的測量。
切換顯示:支持區分表示,可切換顯示不同粒徑范圍的數據。
應用場景
無塵室監測:用于監測無塵室中的落塵情況,幫助評估無塵環境的質量。
產品表面污染檢測:可檢測產品表面附著的粗大粒子,有助于提高產品質量。
設備內部污染檢測:適用于檢測設備內部附著的塵埃,便于進行清潔和維護。
優勢
高精度測量:能夠精確測量10μm以上的粗大粒子,提供可靠的測量數據。
多種粒徑區分:支持多種粒徑范圍的測量,滿足不同應用場景的需求。
靈活的采樣方式:使用晶片進行采樣,適用于多種表面和空間的測量。
綜上所述,DTSP10-03落塵計數器是一款適用于粉體行業,特別是對無塵環境和產品表面污染檢測有需求的高精度測量設備。
粒徑測量范圍:可對10μm以上的粗大粒子進行分級計量。
粒徑區分:10μm、30μm、50μm、100μm,11~99μm范圍內可以設定數值。
晶片尺寸:使用4英寸晶片進行采樣。
**測試范圍:Ф80mm。
Trimming功能:具備Trimming功能,可進行更精確的測量。
切換顯示:支持區分表示,可切換顯示不同粒徑范圍的數據。
無塵室監測:用于監測無塵室中的落塵情況,幫助評估無塵環境的質量。
產品表面污染檢測:可檢測產品表面附著的粗大粒子,有助于提高產品質量。
設備內部污染檢測:適用于檢測設備內部附著的塵埃,便于進行清潔和維護。
高精度測量:能夠精確測量10μm以上的粗大粒子,提供可靠的測量數據。
多種粒徑區分:支持多種粒徑范圍的測量,滿足不同應用場景的需求。
靈活的采樣方式:使用晶片進行采樣,適用于多種表面和空間的測量。
綜上所述,DTSP10-03落塵計數器是一款適用于粉體行業,特別是對無塵環境和產品表面污染檢測有需求的高精度測量設備。
Innova UNP-1100
RMC-300SMC
1033-300A
200
FS型
FRG-35
Mini Dappo
POK-6型
300
FRG-35-PSL
B1
DG-MiniLAB