顆粒圖像分析儀EyeTech是新一代顆粒粒度和粒形分析儀。我們在粒度和粒形分析方面具有豐富的經驗，為各種應用引入了滿足各種不同應用需求的粒徑粒形分析方法。

激光粒度粒形分析儀

測量原理

粒徑分析 (PSA)

EyeTech 激光粒度儀采用有名的激光遮擋法（LOT）。這是一種針對旋轉的激光光束遮擋時間 的粒徑分析技術。樣品中顆粒被聚焦的He-Ne 激光掃描，該激光采用楔形棱鏡，以200Hz的速度旋轉。在角速度已知的情況下，每一顆粒的直徑都可以用遮擋信號的持續時間來計算。這免除了其它分析技術所需的對檢測器靈敏度進行校正的必要性。

EyeTech 激光粒度儀具有高精度、可靠性和重復性。我們激光方法在600個不連續的時間間隔進行粒徑測量，得到高分辨率的粒徑分布。顆粒粒徑是直接測出來的，而不是通過粒徑的二級特點推算出來的。不受折射率指數、粘度變化、布朗運動、熱傳導和其它物理現象的影響。

動態粒形分析 (DSC)

動態粒形分析采用樣品的原位圖像來分析粒形特征。收集顆粒數字圖像并分析大量形狀參數。動態顯微鏡同步頻閃光在顆粒在動態流動過程中，可以連續捕捉“靜止”圖片。這樣就不必停止液體流動和限制對靜止物體的監測。大量圖片被放大、處理和自動分析，確保結果具有充分的代表性。圖像和統計數據都可以打印或儲存，作為樣品記錄。

激光粒度粒形分析儀

特別特征

模塊化設計

可互換的測量池模塊能夠分析各種狀態的顆粒，液體、粉末、氣溶膠、膏狀、薄膜和乳劑。還有特別的測量池用于高濃度樣品測量。采用基于工業P4 電腦開發的ACU，模塊化的EyeTech可以被很方便地整合到任何實驗室。