概述：  

TSM超細顆粒粒度分析儀是一種基于消光法原理的新型顆粒粒度分析儀器，用于測量超細顆粒的粒度分布。本儀器由主機，計算機和打印機，儀器操作軟件等組成。儀器具有操作簡單，測量時間短，操作軟件良好的人機對話界面等優點。可廣泛用于電子，光學，化工，醫藥等行業測量超細固體顆粒、懸乳劑、懸浮液等的顆粒和液滴的平均尺寸和尺寸分布。以表格形式和直方圖形式給出被測顆粒的粒度分布和累積分布的測量結果，以及D₃₂， Dv₅₀等多種平均粒徑和比表面積。  

主機內包括光源，光學系統，測量樣品池，光電信號轉換及放大系統，A/D數據采集卡等。主機輸出信號通過USB電纜與計算機的USB口相連接，計算機對主機測量進行控制和數據處理，并打印輸出結果。

技術特點：  

1、大功率白色光源  

2、采用進口美國海洋光學光譜接收器  

3、集多年研究之成果，獨特消光理論的**應用  

4、獨特反演算法，保證顆粒測量的準確  

5、USB接口，儀器與計算機一體設備，10.8寸觸摸屏，直接顯示數據與粒徑分布，可連接U盤、打印機、鼠標等。  

6、微量固定樣品池，超高感應靈敏度，僅需少量樣品  

7、軟件個性化，提供測量向導等眾多功能，方便用戶操作；  

8、測量結果輸出數據豐富，保存在數據庫中，能用任意參數，如操作者姓名，樣品名，日期，時間等進行調用分析，與其他軟件實現數據共享；  

9、儀器造型美觀，體積小重量輕；  

10、測量精度高，重復性好，測量時間短；  

11、軟件提供眾多物質折射率供用戶選擇，滿足用戶查找被測顆粒折射率要求；  

12、考慮到測試結果的保密要求，只有授權操作者才能進入相應數據庫讀取數據和處理；  

技術參數：  

工作條件：  

1.室內溫度：15℃-35℃  

2.相對溫度：不大于85%（無冷凝）  

3.建議用交流穩壓電源1KV，無強磁場干擾。  

4.由于在微量級的范圍內的測量，儀器應放在堅固可靠、無振動的工作臺上，并且在少塵條件下進行測量。  

5.儀器不應放在太陽直射、風大或溫度變化大的場所。  

6.設備必須接地，保證安全和高精度。  

7.室內應清潔、防塵、無腐蝕性氣體。  

工作原理：
消光法(Extinction)是光散射顆粒測量技術中的一種，又稱濁度法(Turbidimetry)。  

消光法的原理簡單，測量方便，對儀器設備的要求較低，測量范圍相對較寬，下限為數十個納米，上限約10mm左右，測量結果準確，重復性好，測量速度快。因此，該方法不僅在膠體化學，高分子化學以及分析化學等實驗室分析中得到了廣泛應用，還在在線測量中得到越來越多的應用，如對高分子聚合過程的測量和監控，內燃機排氣中固體微粒粒徑的測量，大型火力發電廠和原子能電廠中蒸汽濕度和水滴直徑的測量，煙塵排放濃度的監控等。  

消光法的測量原理如圖1所示。如果一束直徑遠大于被測顆粒粒徑、強度為I0、波長為λ的平行單色光入射到一含有被測顆粒群的介質時，由于顆粒對光的散射和吸收作用，光的強度將受到衰減