TE致冷CCD光譜儀

Glacier™ X是高性能的TE致冷線陣CCD光譜儀。與非致冷的CCD光譜儀相比，Glacier™ X可以提供更高的動態范圍，更顯著的降低光譜儀的噪聲，更優異的長期穩定性，更適合微光檢測和長時間連續監測等應用。它的低檢測波長可達200nm，高可達1050nm。根據不同的配置，光譜分辨率0.6-4.0nm可選。靈活的配置及完備的應用支持，使其成為眾多的微光檢測、長時間光譜檢測應用需求的理想選擇。

Glacier™ X采用2048像元檢測器，內建16位數字轉換，高速USB2.0即插即用數據接口。

B&W Tek提供靈活的配置以滿足不同的光譜分析應用需求OEM客戶的特殊要求。

產品特點：

• 紫外-近紅外波段

• 0.6nm - 4.0nm 光譜分辨率

• TE致冷/控溫

• 16位數字轉換

• 500 kHz 讀出速度

• 即插即用USB 2.0數據傳輸

• 提供OEM版本

應用：

• 紫外可見近紅外 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析及應用

• 長積分檢測

• 吸光度測量

• 反射率測量