日本JEOL X射線熒光光譜儀JSX-1000S

JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。　 利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。

• 產品規格

• FIB

• Windows ® 為美國微軟公司在美國或其它國家的注冊商標或商標。

• 主要附件

• 樣品室真空排氣單元

• 多樣品自動交換單元

• 濾波器組

• 濾膜FP 法分析軟件

• 薄膜FP 法分析軟件

• 和峰消除軟件

• 鎳鍍層篩選解決方案

• 錫鍍層篩選解決方案

• 氯元素篩選解決方案

產品特點：

· JIB-4000聚焦離子束加工觀察系統配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。被加速了的鎵離子束經聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行SIM觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為TEM成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內部制備截面樣品。通過與SEM像比較，SIM像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。

· 高性能FIB鏡筒

· JIB-4000采用高性能的FIB鏡筒，**離子束流高達 60 nA，能進行快速研磨。大電流下的快速加工尤其適合于大面積的研磨，制備100 μｍ以上用來觀察的截面非常輕松。

· 用戶友好的FIB裝置

· JIB-4000高性能的 FIB鏡筒具有出色的可操作性。用戶友好的外觀和GUI設計，建立了使用方便的FIB系統。即使不是FIB專家也能夠輕松操作，此外，該裝置小巧緊湊為業界*小體積，安裝地點的選擇范圍很大。

· 雙樣品臺

· JIB-4000標配的塊狀樣品馬達驅動樣品臺可供塊狀樣品使用，此外還可以增配側插式測角臺（TEM用Tip-on 樣品架可以直接插入）。塊狀樣品馬達驅動樣品臺能觀察整個表面為20 mm x 20 mm的塊狀樣品，樣品交換可以通過氣鎖式系統快速進行。側插式測角臺與JEOL的TEM系統使用的相同，因此Tip-on （尖端上可以安裝附件的）樣品架與JEOL的TEM系統可以通用，這樣，FIB加工和TEM觀察的反復交替就能很容易地進行。

· 豐富的附件

· 有各種附件可用來支持JIB-4000的操作。包括對電路修改應用特別有效的CAD導航系統，對特殊形狀加工有效的矢量掃描系統等。通過給JIB-4000安裝適當的附件，該系統可以支持樣品制備以外的應用。