J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統軟件中的PCA工具是使用LIBS、質譜或兩個光譜對各種樣品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地質礦物等)進行分類或鑒別的理想方法，能瞬時監測所選元素的LIBS發射峰值強度，揭示不同樣品深度處元素組成的變化。DepthTracker™對于確定樣品表面的污染物、執行涂層分析、了解薄膜結構以及識別位于其下方的夾雜物是一項非常有價值的功能，可以輕松地估計集成強度和RSD值。同時，時間分辨ICP-MS信號也可以非常流暢，并且可以輕而易舉地獲得TRSD（時間相對標準偏差）統計學數值。

控制系統：

1、J200氣體控制系統使用了兩個高精度、數字化質量流量控制器（MFC）和電子控制閥，用于氬氣、氦氣及補充氣體的輸送。

2、運輸氣體和補充氣體流向樣品室，ICP-MS系統按順序自動運行，并被精確控制，帶來理想的氣流，防止等離子體火焰熄滅。預設配置可以選擇輸送氬氣、氦氣或補充氣體。

產品特點：

1、針對雙重LA/LIBS性能而設計的緊湊、模塊化系統，J200系統的**性在于其模塊化系統的設計；

2、自動調整樣品高度，保證激光剝蝕的一致性J200采用了一種自動調高傳感器，該傳感器的設計考慮到了樣品表面的形態變化；

3、具有可互換鑲嵌模塊的Flex樣品室，以優化氣流和微粒沖洗性能根據測量目標(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等)；

4、緊湊型微集氣管設計，以消除脫氣和記憶效應，雙路高精度數字質量流量控制器和電子控制閥門；

5、用于判別和分類分析的LIBS化學計量軟件，多功能取樣方法：全分析、微區&夾雜物分析，深度分析和元素成像，維護成本低；

6、應用光譜Flex樣品室帶有可互換鑲嵌模塊，以優化運輸氣體流量和顆粒沖刷性能。

J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統能夠快速而準確地識別復雜的LIBS發射峰。特定的搜索標準(波長范圍、元素組、等離子體激發狀態)可以用來在短時間內縮小搜索范圍。TruLIBS™允許用戶從Axiom LA軟件直接加載實驗庫LIBS光譜來識別和標記峰值，通過將多個硬件指令組合在一起，并及時對它們進行排序，Axiom LA創建了一個存儲“方案”。方案一經創建，之后就可以將它們調出，并將它們組合，以提供高度自動化的檢測體驗。我們只需“調出”整個方案以重復實驗，或者復制方案的一部分，將其與新的指令結合起來，以解決新的采樣方案。

J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統