我公司推出OLED器件和鈣鈦礦LED發射角度光譜分析系統（OLED光譜分析儀）、載流子遷移率測量系統、電學性能評估系統以及軟件模擬研發系統，為廣大科研工作者和研發機構提供了有力的測試工具。

主要測試功能： OLED效率測量/EQE測量，Lm/W 和 Cd/A；

發射角度測量；

光譜&顏色測量@發射角；

CIE xyY測量；

視角測量；

IVL(電流—電壓—亮度)測量；

PL光致發光和EL電致發光測量；

極化測量；

主要技術規格：

角度范圍：-85°~+85°；

光譜范圍：360nm~880nm，分辨率1.2nm;