▼概要

　　自動**反射率測量裝置一邊變化照到樣品的入射角，一邊測量反射率以及透過。用于太陽能電池零件，半導體，薄膜，光學元件等各種固體樣品的分光特性或者膜厚等的測量。入射角通過旋轉樣品臺設定，受光角通過滑動積分球控制。另外，能用非同步方式分別設定入射角和受光角。而且，根據任意設定P偏光和S偏光角度，能研究樣品的偏光特性。

可選擇用在緊湊的中型機種V-600系列紫外可見近紅外分光光度計上，也可以選擇用在適合高分辨率，高吸光度測量的V-7000系列紫外可見近紅外分光光度計上。

◆裝置特點

?PC直接控制設定角度及光譜測量等條件?測量范圍廣，從紫外到近紅外區域?雙光束光學系統，測光穩定性好?可分別控制入射角、受光角?標配偏光測量功能?專用的樣品池支架，樣品的裝卸簡單

◆規格

▼ARMV-734/ARMN-735　自動**反射率測量組件（V-600用）

※ARMV-734用于V-650，660、ARMN-735用于V-670。

▼VAR-7010/7020/7030　自動**反射率測量組件（V-7000用）

※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、 VAR-7030用于V-7300。