一、 測量范圍：

測量半導電電阻率時： 電阻率10-6—105Ω-cm；分辯率10-6Ω-cm

                      測量其他（電線電纜）電阻時： 電阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ

二、 電壓測量：

1．  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  測量誤差  2mA檔±(0.5%讀數+8字)；20mV—2V擋±(0.5%讀數+2字)

3．  顯示4 1/2 位數字顯示0—19999具有極性和過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。

三、 恒流源：

1．  電流輸出： 10μA、100μA、1mA、10mA、100mA、0.5A、1A、10A

2.    電流誤差：±(0.5%讀數+2字)

四、 數據打印：

可對測試結果進行打印，顯示結果為：體積電阻率、電阻值

五、測量電極：

1、電極材質：銅

2、測量距離：10MM

六、粉末套筒：

1、內徑：16mm

2、行程：50 mm 

在較低溫度時，選擇溫度間隔小，例如10C,隨著試驗溫度的升高，溫度間隔適當增大，注：電阻和溫度的關系以電阻（電阻率）的對數與溫度的倒數的關系表示。由于介電吸收問題，在規定的測量時間里電流不能達到穩定時，就需要測出電阻與時間的函數關系，從而估算出穩態下的電阻值。2）調節加熱室的溫度應使電極底板的溫度不超過所要求的試驗溫度。

當被試材料的電阻相對低時，需要降低電壓進行測量，避免試樣的發熱效應。對于那些有極化效應的試樣，由于電荷集中在一個或兩個電極上，其試驗結果易出現誤差。除非對熱降解影響有特殊要求外，試樣在試驗溫度下應保持足夠長的時間以達到熱平衡。按試驗所要求的時間間隔或更長時間間隔，用另一個試樣定時地測量其電阻值（1min電化時間），再比較這些測量值，從而決定暴露于試驗溫度下的大允許時間。在一系列逐級升溫下試驗后，還要在起始溫度上再進行測量，以便觀察試樣暴露在高溫下是否產生**性變化。取測得的電阻R值作為絕緣電阻，Rv——體積電阻，單位為歐姆（Q）；A——測量電極的有效面積，h—試樣在面積A以內的平均厚度，c）電極型式、材料、尺寸；

d）電阻的測量方法；e）試驗電壓和電化時間；g）測量時的溫度；h）每一溫度下的個別值；i）體積電阻率。1—溫度指示儀；2-熱電偶；4—電極板；5--金屬屏蔽罩；6—電源；8烘箱臂。試驗儀器的額定直流開路電壓為500V,好采用絕緣測試儀（歐姆表）或用任何一種可給岀可比結果的合適儀器進行測試。試驗儀器的測定電阻誤差應小于10%,在被試產品上消耗的功率不大于3W。在測量較高電阻時,施加于被試產品上的電壓太低可能產生較大誤差。在有爭議情況下，其電壓可不低于40V,但不得違反在被試產品上消耗功率不大于3W的要求。除鞋類試驗的電極系統外,一般通過導電銀涂料、膠體石墨或導電液在測試物表面上形成電極（被測產品電阻在iog及以下時。