日本eager  粉體電導率測定單元

1. 能夠測量粉體材料在不同密度下的電阻值，并計算出相應的電阻率和電導率，從而得到描述粉體材料電性能的曲線。測試裝置由壓力機構、微位移測試裝置、精密電橋、樣品盒等組成。壓力機構用于改變樣品盒中粉體材料的體積，微位移測量裝置實時記錄體積的變化，精密電橋記錄相應壓力下的粉體電阻值。

2. 適用于金屬粉體材料、非金屬粉體材料以及納米材料電阻率和電導率的測量，它將在材料學、電子技術等行業發揮作用。

3. 該設備可以一邊加壓一邊同步測試粉體電導率，由四探針裝置、直流恒流電源、數字電壓表、壓片裝置和樣品容器等組成。