日本Rigaku智能多功能X射線衍射儀Smartlab SE

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產(chǎn)品介紹

日本Rigaku 智能多功能X射線衍射儀 Smartlab SE

高自動(dòng)化、多功能衍射儀，精于形，智于心

易用、智能的全功能X射線衍射儀

多功能X 射線衍射儀裝備有多種附件，兼具多種用途，例如：粉末衍射、小角散射、殘余應(yīng) 力等多種應(yīng)用。然而，伴隨著儀器附件及功能的增加，多功能 X射線衍射儀的易用性不斷降低。您是否確定測試人員選擇了**的測試條件？當(dāng)進(jìn)行多種復(fù)雜附件切換的時(shí)候，1fE如何確定儀器處于**的矯正狀態(tài) ？

Smartlab SE 從如下三個(gè)方面解答了您的疑問。首先，儀器可以通過二維碼自動(dòng)識(shí)別裝載于衍射儀上的組件，井檢查相關(guān)組件是否滿足用戶選擇的測試。理學(xué)智能的軟件會(huì)建議操作人員更換組件，以達(dá)到** 的測試結(jié)果。

其次，理學(xué)獨(dú)有的全自動(dòng)校正操作，會(huì)在組件安裝完畢后啟動(dòng)。在實(shí)驗(yàn)前的自動(dòng)校正，是確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)一致性，咸小實(shí)驗(yàn)誤差的**方法。

除此之外，全新的Sma「tlab Studio ｜｜軟件為全新的 Smartlab SE 提供了模塊化的衍射功能組件，包括儀器的控制、衍射數(shù)據(jù)的分析和生成報(bào)告等。Smartlab Studio II 軟件的設(shè)計(jì)思路，源自于理學(xué)的簡單易用的設(shè)計(jì)語言。全新的 Guidance 軟件確保即使是初學(xué)者也可以通過軟件的“引導(dǎo)”獲得與同行專家一樣的測試數(shù)據(jù)。

引導(dǎo)用戶從測試到數(shù)據(jù)分析

Smartlab Studio ｜｜軟件包中的Guidance軟件可以根據(jù)用戶希望完成的測試，給出儀器所需硬件配置，井優(yōu)化測量參數(shù) 。對于常見的測試，軟件會(huì)給出**化的儀器配置，井可以自動(dòng)化的完成測試序列。由于 Smartlab中使用了獨(dú)有的組件識(shí)別技術(shù) ，因此當(dāng)測試人員沒有正確配置光路或附件時(shí) ，Guidance 軟件可以告知測試人員。軟件參數(shù)的優(yōu)化與硬件組件的智能確認(rèn)是Smartlab系統(tǒng)可以勝任所有樣品測試的關(guān)鍵。

可以滿足不同應(yīng)用需求

多種光路及附件組合，能滿足多種用戶測試需求。簡單、快速的切換不同的光路幾何

CBO （交叉先路）技術(shù)與光路自動(dòng)調(diào)整和樣品位置矯正的結(jié)合，可以使用戶在多種光路幾何間，快速便捷的切換。

支持多種附件

自動(dòng)進(jìn)樣器、樣品旋轉(zhuǎn)臺(tái)、變溫附件或濕度控制附件等多種附件可供用戶選擇。

可滿足快速和二維測量的先進(jìn)的探測器

Smartlab SE提供兩個(gè)先進(jìn)的檢測器：D/teX Ultr a 250 高速一維探測器作為標(biāo)準(zhǔn)配置，HyPix-400 二維半導(dǎo)體陣列檢測器作為升級(jí)配置供用戶選擇。 HyPix-400半導(dǎo)體陣列檢測器不僅可以在二維模式下使用，同時(shí)還可以切換為零維或一維模式，這樣極大的擴(kuò)展了該檢測器的應(yīng)用范圍。

從粉末測試到二維數(shù)據(jù)采集

根據(jù)用戶的需要，整個(gè)儀器的配置可以滿足常規(guī)粉末樣品測試，或者，復(fù)雜的微區(qū)或原位測試等要求。

標(biāo)準(zhǔn)光路配置

Bragg-Brentano 聚焦光路

．粉末測試

·定量分析

．晶粒尺寸

·結(jié)晶度

切換至SAXS測量模式理學(xué)**的交叉光路（ CBO）技術(shù)

使用CBO光路系統(tǒng)

聚焦光路件平行光路〈通過CBO 轉(zhuǎn)換）

· SAXS 測試薄膜測試聚焦光路悼會(huì)聚光路法（CBO-E)

．粉末透射測試

聚焦光路件發(fā)散光路（通過CBO α轉(zhuǎn)換）

．高峰背比（P/B）的粉末測試

切換至微區(qū)測量模式HyPix-400檢測器

搭載HyPix-400 的光路系統(tǒng)

裝載有HyPix-400 二維探測器的光路

．微區(qū)測試

·原filln-situ測試

．取向測試

Smartlab SE 產(chǎn)品特征

先進(jìn)的高速探測器

高分辨率，超快速一維 X 射線探測器D/teX Ultra250 (0/1D)

D/teX Ultra250 一維探測器支持Bragg-Brentano聚焦法測試，并且可以在短時(shí)間內(nèi)獲得廣角度的粉末衍射峰形。作為一款高性能的半導(dǎo) 體檢測器，其極高的能量分辨率可以有效的降低在測試過程中產(chǎn)生的背景噪音。D/teX Ultra250 高速探測器作為一維探測器使用時(shí) ，可以檢測到極弱的衍射信號(hào) ，同時(shí)，該探測器還可以像閃爍計(jì)數(shù)器一樣，作為零維探測器使用。

半導(dǎo)體陣列多維探測器 HyPix-400 (OD /1D/20)

SmartLab SE搭載了先進(jìn)的HyPix-400半導(dǎo)體陣列20探測器。如果說 D/teX Ultra 250可以勝任常規(guī)的零維和一維模式讀取的話，那么大讀取面積的HyPix-40 0 二維探測器在收集二維衍射照片方面具有非常大的優(yōu)勢，HyPix -400 二維探測器可以在極短的時(shí)間內(nèi)完成晶體取向評估及廣域倒易空間成像等多種應(yīng)用。

交叉光路技術(shù) ：CBO （理學(xué)**）

CBO 是理學(xué)**的光路切換單元，使用CBO僅需要對狹縫更換即可完成兩種不同的光路幾何之間的切換。SmartLab SE 可以根據(jù)用戶需求提供三種不同的CBO單元的組合：Bragg-Brentano 聚焦光束／平行光束，B「agg-Brentano 聚焦光束／會(huì)聚光束，B「agg-Brentano 聚焦光束／發(fā)散光束。

B舊gg”Brentan 聚焦法：衷方法多用于常規(guī)粉末 XRD） lj試。

平行光束法（CBO）：多層膜拋物面鏡使發(fā)散的光束變?yōu)槠叫泄?。該光束多用于SAXS ，薄膜樣品或表面粗糙樣品的測試等。

會(huì)聚光束法（CBO-E）：發(fā)散的光束通過具有橢圓形鏡面的多層膜透鏡會(huì)聚于被測表面，該光路可以在透射模式下提供高角度分辨率的數(shù)據(jù)。

發(fā)散光束法（CBO α）：光束被平面多層膜鏡單色后，只有 Kα，相比Bragg-Brentano 可以增加數(shù)據(jù)的峰背比。

測量及數(shù)據(jù)分析軟件包 Smartlab Studio 11

Sma「tlab Studio II 是一個(gè)功能強(qiáng)大、操作界面友好的軟件包，其中整合了所有的光路調(diào)整，數(shù)據(jù)測試和分析的功能。用戶可以通過不同組件的切換選悻所需的功能，例如“測試” 、“粉末數(shù)據(jù)分析” 、“極圖” 、℃DF分析”或“殘余應(yīng)力”等功能。所有這些功能都集中于同一個(gè)界面友好且容易操作的軟件操作平臺(tái)。

智能光路感知功能

由于光學(xué)組件可以被儀器自動(dòng)識(shí)別，使用理學(xué)的Guidance 軟件可以通過演示動(dòng)畫指導(dǎo)用戶更換光路或附件。

除此之外，對于常見的應(yīng)用，軟件包中預(yù)設(shè)有推薦的光路設(shè)置、樣品校正和測量序列，可以嗎助初學(xué)者盡快熟悉井完成所需的測試。

流程圖式的測試引導(dǎo)欄

Sma『tlab Studio 川采用了簡潔的流程圖式的引導(dǎo)欄，從測試到數(shù)據(jù)分析的整個(gè)過程中，通過提示關(guān)鍵步驟，更加直觀的幫助測試人員者理解每步操作。

綜合信息管理系統(tǒng)

Smartlab Studio II 采用了先進(jìn)的 SOL數(shù)據(jù)管理模式，于本地?cái)?shù)據(jù)庫中高效的管理測試材料信息、測試數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)分析結(jié)果。SOL數(shù)據(jù)庫具有出色的數(shù)據(jù)檢索和備份功能，可以輕松處理海量測試信息.

Smartlab SE 可根據(jù)應(yīng)用需求調(diào)整配置

反射／透射模式下的粉末衍射測量

反射模式光路配置

Bragg-Brentano 聚焦法

．平行光束法

·發(fā)散光束法

用戶可以根據(jù)測量需要在反射模式和透射模式間切換。使用會(huì)聚光束進(jìn)行透射法測試，可以獲得更高的強(qiáng)度和更好的分辨率。

0.1 質(zhì)量分?jǐn)?shù)% 石棉（溫石棉）分散于碳酸鈣中一束發(fā)散的X射線經(jīng)過平面鏡單色后進(jìn)行衍射實(shí) 驗(yàn) ，相比于傳統(tǒng)的 Bragg-Brentano聚焦光路模式，可以獲得更高的信背比。從衍射實(shí)驗(yàn)結(jié)果中可

以看出，？自量的石棉衍射信號(hào)都可以被檢測到。

透射模式光路配置

·聚焦光束法

·平行光束法

（上圖展示的是垂直模式下的透射測試光路）

分別用反射法和透射法測試藥片的X射線衍射峰藥物片劑一般由含有甜昧的輔料及可食用色素構(gòu) 成，可以有效的降低藥片在吞咽時(shí)的苦澀感。藥片表面的成分可以通過反射法進(jìn)行測試，而藥片內(nèi)部的信息可以通過透射法獲得。

微區(qū)衍射測試

采用理學(xué)專有的 CBO-f光學(xué)附件，該附件可以使X射線會(huì)聚于樣品表面，而不再需要調(diào)整×射線從線光源到點(diǎn)光源。除此之外，使用D/teX Ult「a250 高速探測器或 HyPix-400 二維半導(dǎo)體陣列探測器可以快速的檢測到微區(qū)實(shí)驗(yàn)中弱的衍射信號(hào)。

微區(qū)測試應(yīng)用于即刷電路板

(1）電容器（2) IC 芯片（3）焊點(diǎn) 采用CBO-f 和 HyPix-400 測試。

極圖／殘余應(yīng)力測試

使用線光源在極圖測量時(shí) ，可以降低由于使用Schulz狹縫時(shí)，衍射強(qiáng)度隨試樣傾角的增加而降低的情況，其測試效果與點(diǎn)光源一致。軟件中的“Pole figure and ODF analysis” 插件可以進(jìn)行晶體取向分析井且可以通過重新計(jì)算得到樣品的全極圖。

在殘余應(yīng)力測試中，使用平行狹縫分析器（ PSA）可以有效的降低由于位移誤差造成的峰位漂移。

重新計(jì)算后生成的鋁錨片的全相極圖

測試中使用了，α日樣品臺(tái) ，反射附件， Schulz挾縫。全相極圖是基于三個(gè)不同的米勒指數(shù)面仆仆，200 和 220 ）的測試結(jié) 果，通過ODF重新計(jì)算得來的。

小角X射線散射（SAXS)

SAXS測試可以獲得粒徑或孔徑小于 100nm的材料的分布情況，衷測試過程中 28角度移動(dòng)范圍小于 10。。SAXS測試過程中，使用雙挾握和平行光光路系統(tǒng)。／使用真空光路，可以減小空氣散射的影響，從而獲得高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。

10 SAXS測試分散于甲苯中的金粒子（雙狹縫光學(xué)系統(tǒng)）

原位測試

原位（ In-situ ）測試技術(shù) ，可以通過測試人員的控制，改變溫度或濕度，同時(shí)測量衍射數(shù)據(jù)的變化。Smartlab SE支持各種原位測量附件，如常見的變溫附件，濕度控制附件，使用DSC附件還可以監(jiān)測樣品在熱反應(yīng)前后的變化。多種原位附件與HyPix400半導(dǎo)體陣列檢測器的結(jié)合，使得快速的實(shí)時(shí) 測量成為可能，不僅可以鑒定結(jié)構(gòu)的變化，還可以檢測大尺寸晶粒和晶面取向的變化。

相變屬蟲化過程，甲糖寧是一種治療糖尿病的藥物J 監(jiān)測其在變溫過程中物象的變化。隨著溫度的變化，甲糖寧的晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生改變。使用二維半導(dǎo)體陣歹I］探測器HyPix-400，可以監(jiān)測其在眼熱反應(yīng) （峰）前后晶體結(jié)構(gòu) 的變化。