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博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀O系列

直接聯系

安柏來科學儀器（上海）有限公司

美國

產品規格型號

參考報價：

面議

關注度：

1055

產品介紹

博曼O系列產品概述：

O系列采用毛細管光學結構，擁有精準的測試性能，同時能實現極小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細管結構取代了安裝在博曼標準機型中的準直器組件。由于多導毛細管可以傳遞數百倍的能量信號，可以有效提高到達樣品表面的入射X射線強度。O系列配備高分辨率的SDD探測器，在短時間內捕捉并處理大量數據，在短時間內滿足極小斑點的測量的同時獲取精準的測量結果（準確性和重復性）。

該系列采用80μm毛細管光學結構，同時配備可處理更高計數速率的高分辨率SDD硅漂移探測器。O系列的相機具有更大的放大倍數，擁有45x視頻放大和5x數碼變焦。一個可編程的XY樣品臺也是標準配置。O系列的焦距非常接近，所以使用時樣品必須平整。

博曼O系列可滿足以下類型用戶的需求：

- 極小的樣品，如半導體，連接器或PCB

- 需要測試多個樣品的多個位置

- 需要測量非常薄的涂層（<100nm）

- 需要在短時間內完成測量（1-5秒）

- 符合IPC-4552A

博曼O系列產品參數：

類別

參數

元素測量范圍：

X射線管：

探測器：

分析層數及元素數：

濾波器/準直器：

焦距：

數字脈沖器：

計算機：

相機：

電源：

重量：

可編程XY平臺：

樣品倉尺寸：

外形尺寸：

13號鋁元素到92號鈾元素

50 W鉬鈀射線管 80um毛細管光學結構

135eV及以上分辨率的硅漂移探測器

5層（4層+基材）每層可分析10種元素，成分分析*多可分析25種元素

2位置一次過濾器

固定焦距（0.1"）

4096 多通道數字處理器，自動死時間和逃逸峰校正

英特爾，酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz)， 8GB DDR3 內存，微軟 Windows 10 專業版， 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率，250X雙攝像頭或45X單攝像頭

150W，100-240V，頻率范圍為47Hz至63Hz

53kg

平臺尺寸：15"x 13"| 行程：6"x 5"

高度：140mm（5.5"），寬度：310mm（12"），深度：340mm（13"）

高度：450mm（18"），寬度：450mm（18"），深度：600mm（24"）

關于美國博曼：

美國博曼（Bowman）是高精度臺式鍍層測厚儀供應商，擁有近40年的行業經驗。博曼XRF系統搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術和先進的軟件系統，可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統可同時測量包含基材在內的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時，博曼XRF系統也可以測量高熵合金（HEAs）。

獲取更多信息，請訪安柏來科學儀器（上海）有限公司網站

產品咨詢

博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀O系列

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