剪切干涉儀

特性

• 定性的光束準直測試，適用于直徑為Ø1-Ø50毫米的光束
• 磁性耦合可調設計，允許快速更換剪切板
• 英制和公制螺紋安裝孔

SI系列剪切干涉儀可用于確定相干光束是否準直。該設計包括一個45度安裝的楔形光學平板，和一塊位于中間的帶刻度參考線的散射屏。

散射屏用于觀察由光學平板的前后表面的菲涅爾反射產生的干涉條紋。如果光束已經準直，干涉條紋會平行于帶刻度的參考線。除了準直度以外，干涉條紋還對球差、慧差和像散敏感。

楔形光學平板是由未鍍膜的紫外熔融硅。每個板尺寸的楔角優化到可接受光束尺寸的范圍；詳情請看規格標簽。由于光在板上的入射角為45度，條紋圖案的強度取決于極化光。當偏振垂直于入射面時會產生**強度。

為了觀察到的干涉條紋，入射的光的相干長度必須長于由剪切板引起的光程長度的變化。規格標簽的更多信息，請參閱下表腳注。

構造

剪切干涉儀由三部分組成一套：一個底座，一個帶有楔形光學平板的板，和一個帶有擴散屏幕的板。建立該干涉儀用4-40螺絲和六角鍵連接觀察屏幕板與底座。楔形光學平板通過磁力夾持就位，使它能夠很容易地換成帶有不同楔形光學平板的板。該底座是由經陽極氧化處理的鋁和帶有安裝Ø1/2英寸接桿的螺紋孔組成。在楔形光學平板后面的底座上有一個孔，這樣光可以毫無阻礙地穿過光學平板。右邊的橫截面圖的說明剪切干涉儀的構造和光束傳播。

附件

對與小直徑光束，相應的干涉條紋圖樣也小，這樣就不利于觀測。對于這種情形，可以購買SIVS放大觀察屏配件，它可以代替標準的散射觀察屏，從而增大散射屏上條紋的尺寸。SIVS包括一個已安裝的發散透鏡和散射屏，這種屏適合觀察直徑為1至10毫米的光束。該板含有可以單獨提供的楔形光學平板，使各種光束的尺寸可以用一個單一的底座單元測試。

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上圖是UVFS在光正入射時的透過率曲線。其中UVFS樣品未鍍膜，厚度為1毫米，數據也包含表面反射。