高分辨率X射線三維檢測(cè)系統(tǒng)是一種能夠檢測(cè)任何物體并在檢測(cè)中保持物體不被損壞的一種檢測(cè)方式。現(xiàn)已成為工業(yè)、材料、環(huán)境、生命科學(xué)等領(lǐng)域中常見的檢測(cè)方法之一適用于對(duì)樣品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)、故障分析、過(guò)程控制等。

ProCon X-Ray GmbH作為先進(jìn)的X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)的制造商，在微納米級(jí)CT用于3D故障分析和3D計(jì)量等，已擁有10多年的檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)。ProCon X-Ray推出的3D和4D CT（帶運(yùn)動(dòng)的3D）分析系統(tǒng)能提供高品質(zhì)的圖像，幫助您在質(zhì)量控制需求中提供高分辨性和差異化的功能。

CT-COMPACT NANO是一款緊湊的臺(tái)式高分辨率X射線三維檢測(cè)系統(tǒng)，滿足各種高應(yīng)用需求。除塑料和陶瓷外，ProCon X-Ray GmbH的CT-COMPACT可計(jì)算測(cè)試吸收材料，如金屬和更大的測(cè)試件，具有優(yōu)異的可視化質(zhì)量。

節(jié)省空間的CT-COMPACT NANO可根據(jù)客戶要求配備高達(dá)160 kV的微焦X射線管。為了優(yōu)化對(duì)比度，可以改變檢測(cè)器距離。對(duì)于高放大倍率，可以使用不同的平板探測(cè)器。水平定向的X射線束使CT掃描不受重力影響。

CT-COMPACT NANO非常適用于非破壞性測(cè)試、材料分析和尺寸測(cè)量，尤其適用于內(nèi)部結(jié)構(gòu)、底切和自由曲面的檢測(cè)。

適用于廣泛的行業(yè)：石油和天然氣、汽車、電源、牙齒、航天、大學(xué)研究等。

特征

·操作簡(jiǎn)便

·非接觸式計(jì)量

·興趣量-掃描

·質(zhì)量控制獨(dú)立于材料

·缺陷識(shí)別（空洞，裂縫......）

·不同的重建算法過(guò)濾反投影，代數(shù)，統(tǒng)計(jì)

·多個(gè)掃描軌跡Circular，Helix，Planar等等

·許多掃描軌跡的視野擴(kuò)展

·體積縮放（Hounsfield）

·環(huán)形偽像抑制和降噪算法

·光束硬化校正和金屬偽影減少

·用于漂移補(bǔ)償?shù)亩秳?dòng)校正

·相位和暗場(chǎng)對(duì)比度選項(xiàng)

·用于編寫腳本的Matlab / Python / Labview界面

·批處理和掃描計(jì)劃

·時(shí)間分辨CT掃描（4D CT）

·原位選項(xiàng)

·實(shí)時(shí)CT重建

·使用Flat- panel探測(cè)器快速掃描<10秒

·“Industriepreis 2018”-獲獎(jiǎng)?wù)?/span>