v 主要性能特點

1、同時分析測量多種元素（從F到U的任意多種元素）；

2、采用上照式設計，徹底避免污染，操作方便，無需維護；

3、對樣品進行無損分析，分析方便快捷；

4、全自動機電一體化設計，操作界面簡單；

5、單樣品自動進樣，自動檢測，采用多層保護完全屏蔽X射線對人體的輻射；

6、良好的溫度控制設備，儀器對外界的氣溫變化不敏感；

7、對樣品形態要求少，固體、液體、粉末樣品均可以直接檢測，無需復雜的制樣過程；

8、采用SDD探測器，分析速度快，精確度高，穩定性好，故障率低；

9、WINDOWS系統下的中文操作軟件，方便國內用戶使用。不同層次的操作員可隨時調用相關幫助菜單來指導對儀器的操作。

v 儀器主要構成圖

v 主要技術指標：

1． 探測器

? SDD硅漂移探測器（電制冷，只需要通電即可）

? 典型分辨率：123ev,133ev(50000CPS).

? 輸入計數率：1000KCPS，遠大于Si-Pin與Si-Li(是其10倍左右)

? 峰背比：>25000

? 碳窗厚度：1um Dura 碳（一般的探測器在25um,對輕元素有更好的透過率，獨特的Dura技術

?  碳窗可以耐酸，堿的腐蝕）

? 處理器：數字電路，放大倍數，時間常數可任意設置。

? 高壽命，借助于其獨特的Dura碳技術，探測器在幾年的時間內探測器的真空不會變壞，晶體不會損傷，無需擔心后期的維護費用

2.X射線管

? 高壓：0-50Kv連續可調

? 電流：0-1000uA連續可調 （0-2500uA可選，大電流對Na-K有更好的激發效果）

? 功率：50W

? 穩定性：8小時0.2%

? 高壽命，正確操作的情況下壽命可以達到50000小時

2． 高壓發生器

? 輸入電壓：24VDC

? 輸入電流：4A

? 輸出電壓：50Kv，1mA(2.5mA可選，適配2500mA光管)

? **功率：50W

? 穩定性：8小時0.05%

3． 精密結構設計

? 垂直倒角設計，精密的控制保證優異的重復性，上照式設計可以完全避免灰塵的污染，使得儀器可以做到真正的免維護

4． 冷卻散熱系統

? 良好的多級溫控自反饋電路，室溫在5-25℃，儀器結果不會有影響。

5． 自動進樣系統

? 單樣品自動進樣

6．  光譜分析系統控制和數據處理系統

? 12位模/數轉換器

? 19英寸顯示器

? 500G以上硬盤驅動

? 多功能標準鍵盤

? 打印機

7．  分析軟件

? 元素測量范圍：F-U

? 可以測量鍍層厚度

? 標準曲線法，理論系數法，基本參數法，多元比例法 使您輕松應對各種樣品的分析

? 開放式軟件設計，您可以自己開發新的工作曲線

? 內置式參數設計，您在自己制作工作曲線時，各種干擾自動扣除。

8． 尺寸規格

? 長544mm寬572mm(含推手）高1152mm   

? 重量約110kg

9． 電源要求

? 220V±10% 50Hz

10． 工作環境

? 溫度范圍：5—30℃。

? 相對濕度小于等于80%