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      >X/β射線面密度測量儀

      X/β射線面密度測量儀

      直接聯(lián)系

      開封市測控技術(shù)有限公司

      產(chǎn)品規(guī)格型號
      參考報價:

      面議

      品牌:

      開封測控

      關(guān)注度:

      13300

      產(chǎn)品介紹

      設(shè)備用途:用于對鋰電池正極涂布的面密度(單位面積的重量)進(jìn)行非接觸式在線檢測。
      測量原理:X射線屬于電磁波,X射線穿透鋰電池正極涂布極片時,發(fā)生強(qiáng)度衰減,其衰減符合指數(shù)規(guī)律,與涂布面密度相關(guān),依據(jù)探測射線的衰減實(shí)現(xiàn)涂布面密度的測量。鈷酸鋰,錳酸鋰,磷酸鐵鋰,三元等正極材料等效原子序數(shù)高,與基材鋁箔相比,對于X射線的吸收系數(shù)比較大, 所以基材的正常波動對測量結(jié)果影響很小。
      設(shè)備特點(diǎn):
      1、  光斑小:其光斑物理尺寸6mm*6mm、6mm*9mm、6mm*12mm等多種規(guī)格,具有很高的空間分辨能力,極片抖動對測量無影響。
      2、  實(shí)現(xiàn)**測量:可根據(jù)正極涂布的具體規(guī)格,控制調(diào)節(jié)X光機(jī)的管電壓、管電流等參數(shù),構(gòu)造**的測量條件,。
      3、  獨(dú)特的長壽命設(shè)計:X射線發(fā)生器采用上電軟啟動、雙24位ADC雙獨(dú)立閉環(huán)控制、油侵風(fēng)冷散熱等技術(shù),保護(hù)核心部件X光管10年不老化,探測器采用精密焊接密封工藝,保證核心電離室30年不漏氣。
      4、  高精度O型掃描架:使用高慣性矩鋼結(jié)構(gòu)厚壁管梁整體掃描O型框架,掃描基面采用數(shù)控中心一次定位加工,位置精度高,整體穩(wěn)定性強(qiáng),已取得**。
      5、  不斷帶標(biāo)定裝置:測量儀安裝有標(biāo)定裝置,不必斷帶,十分方便用戶對測量儀進(jìn)行在線標(biāo)定,已取得**。
      6、  豁免級防護(hù):距離設(shè)備表面10cm處,劑量率不超過1μSv/h。
      7、  閉環(huán)控制功能:具備與涂布機(jī)聯(lián)機(jī)的功能,可實(shí)現(xiàn)涂布質(zhì)量閉環(huán)控制。
      8、  多架同位測量功能:具備多架測量儀聯(lián)機(jī)測量功能,沿同一軌跡跟蹤測量,得到凈涂布面密度。
      技術(shù)指標(biāo):
      1、  面密度測量精度(2σ):±0.1%;
      2、  重復(fù)測量精度(2σ):±0.05%;
      3、  測量范圍:0~1000g/m2
      4、  X射線發(fā)生器陽極電壓:5~20kV;
      5、  系統(tǒng)響應(yīng)時間(硬件):小于1ms,測量反應(yīng)時間可編程控制;
      6、  掃描速度:0~0.5m/s;
      7、  掃描同步精度:0.04mm;
      8、  光電編碼器定位精度:0.02mm;
      9、  平均無故障時間:X射線發(fā)生器50000h;X射線探測器80000h。
      輻射防護(hù):距離設(shè)備表面10cm處,劑量率不超過1μSv/h,達(dá)到豁免等級,無需辦理輻射安全許可證。

                                                      XCH12000型鋰電面密度測量儀


       
      XCH12000微光斑X射線面密度測量儀
      1、實(shí)現(xiàn)兩側(cè)和頭尾削薄區(qū)域的有效測量:可以給出極片兩側(cè)邊緣和首尾兩端的輪廓情況。
      2、 超小微光斑:測量點(diǎn)的尺寸小,檢測區(qū)域精細(xì),具有很高的空間響應(yīng)能力和分辨能力,測量更加精細(xì)敏感,給出數(shù)據(jù)可反映出極片上的裂縫,刮痕,斑點(diǎn)等小的瑕疵缺陷。
      3、 特殊的與微光斑相匹配的射線探測器:經(jīng)信噪比優(yōu)化設(shè)計,提高射線探測效率,并配合多種環(huán)境測量傳感器補(bǔ)償環(huán)境影響,修正測量結(jié)果。
       
                            
       輸出X射線微光斑尺寸6mm*6mm                                  輸出X射線微光斑尺寸:6mm*9mm
       

       專用的微光斑X射線發(fā)生器                                專用的微光斑X射線探測器
       

                                         微光斑X射線測量到的極片邊緣輪廓

                                         微光斑X射線測量到的極片兩側(cè)邊緣輪廓
       
      XCH5000超軟X射線面密度測量儀(隔膜面密度測量儀)
      設(shè)備用途:用于對鋰電池隔膜的面密度(單位面積的重量)進(jìn)行非接觸式在線檢測。
      測量原理:針對鋰電池隔膜的等效原子序數(shù)低,面密度小的材質(zhì)特點(diǎn),使用超軟X射線(依據(jù)射線穿透物質(zhì)的能力,將能量低于5KeV的X射線稱之為超軟X射線)透射隔膜,探測隔膜對超軟X射線的吸收,實(shí)現(xiàn)對隔膜面密度的測量。由于隔膜的陶瓷涂層對超軟X射線的吸收遠(yuǎn)大于基材,因此射線的透射衰減主要反映了涂層面密度的變化,而對基材不敏感,因此,基材的正常波動不影響測量結(jié)果。
      設(shè)備特點(diǎn):
      1、  超軟X射線:使用的超軟X射線裝置,射線能量低于5KeV,屬于《GB18871-2002電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》豁免要求的等級,安全、環(huán)保;
      2、  專用的射線發(fā)生器:依據(jù)隔膜材質(zhì)特性,設(shè)計專用的超軟X射線發(fā)神器,以構(gòu)造**的測量條件,適合于隔膜測量,隔膜的微孔結(jié)構(gòu)、走帶抖動、自身溫度、顏色及透光率的變化不影響測量結(jié)果,經(jīng)長壽命設(shè)計,確保10年不老化。
      3、  專用的探測探測器:采用特殊材料構(gòu)造射線窗,設(shè)計出高探測效率、低信號漂移的射線探測器,對空氣溫度、濕度、壓強(qiáng)、氣體密度等環(huán)境參數(shù)實(shí)時檢測,抵償環(huán)境的變化的影響,測量結(jié)果穩(wěn)定可靠。
      技術(shù)指標(biāo):
      1、  測量精度(2σ):±0.2%;
      2、  隔膜測量范圍:0~100g/m2
      3、  X射線發(fā)生器的射線管電壓: 5kV以下(常用管電壓4.950kV);
      4、  系統(tǒng)響應(yīng)時間(硬件):小于1ms,測量反應(yīng)時間可編程控制;
      5、  掃描速度:0~0.5m/s;
      6、  掃描同步精度:0.04mm;
      7、  光電編碼器定位精度:0.02mm;
      8、  平均無故障時間:X射線發(fā)生器50000h;X射線探測器80000h。
      輻射防護(hù):產(chǎn)生的**輻射能量不大于5KeV,屬于《GB18871-2002電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》要求的輻射豁免等級,無需辦理輻射安全許可證。
                                        
                             XCH5000超軟X射線面密度測量儀(隔膜面密度測量儀)
       
       BCH25100β射線面密度測量儀
      設(shè)備用途:用于對鋰電池負(fù)極涂布的面密度(單位面積的重量)進(jìn)行非接觸式在線檢測。
      測量原理:β射線屬于帶電粒子流,β射線穿透鋰電池負(fù)極涂布極片時,發(fā)生強(qiáng)度衰減,其衰減符合指數(shù)規(guī)律,與涂布面密度相關(guān),依據(jù)探測射線的衰減實(shí)現(xiàn)涂布面密度的測量。慮鋰電池負(fù)極材料的結(jié)構(gòu)形式,材料的原子系數(shù),以及面密度的范圍,本裝置選用β放射源Kr85。
      設(shè)備特點(diǎn):
      1、  具有**的放射源防護(hù)裝置:所使用的β放射源為V類源,安全危害極低,并采用多重材料復(fù)合屏蔽防護(hù),使用電動閘閥打開和關(guān)閉射線,輻射劑量達(dá)到環(huán)保要求<1μSv/h,該放射源的防護(hù)裝置已取得國家**。
      2、  多種規(guī)格射線束供用戶選擇:射線束尺寸φ9.5mm、φ12mm、φ18mm、φ22mm,用戶可根據(jù)需求選擇。
      3、  邊緣和首尾輪廓測量功能:可采用3mm*38mm的微孔Kr85放射源,用于負(fù)極極片涂布兩側(cè)削薄區(qū)的測量、首尾區(qū)域輪廓的測量。
      4、  專用的β射線探測器:采用特殊材質(zhì)窗口,多層電極的電離室結(jié)構(gòu),探測效率高,穩(wěn)定性好,在使用0~2Ci活度放射源的情況下,電離室均工作在高線性區(qū),不會出現(xiàn)飽和而引起非線性的情況。β射線探測器的電離室采用精密焊接密封工藝,保證核心電離室30年不漏氣。
      5、  閉環(huán)控制功能:具備與涂布機(jī)聯(lián)機(jī)的功能,可實(shí)現(xiàn)涂布質(zhì)量閉環(huán)控制。
      6、  多架同位測量功能:具備多架測量儀聯(lián)機(jī)測量功能,沿同一軌跡跟蹤測量,得到凈涂布面密度。
      技術(shù)指標(biāo):
      1、  面密度測量精度(2σ):±0.15%;
      2、  重復(fù)測量精度(2σ):±0.08%;
      3、  測量范圍:1000g/m2以下;
      4、  β射線源:Kr85,半衰期:10.76年;
      5、  放射源活度:200mCi,300mCi,1000mCi(依據(jù)被測極片規(guī)格)。
      6、  系統(tǒng)響應(yīng)時間(硬件):小于1ms,測量反應(yīng)時間可編程控制;
      7、  掃描速度:**0.5m/s;
      8、  掃描同步精度:0.1mm;定位精度:0.04mm;
      9、  平均無故障時間:β射線探測器80000h。
      輻射防護(hù):采用多重材料復(fù)合防護(hù),距離設(shè)備表面0.1m,輻射劑量率不超過1μSv/h(V類源)。

                                         BCH25100 β 射線面密度測量儀

                                                      Kr85放射源


                                              高性能β射線探測器

      公司放射源源庫,業(yè)內(nèi)**一家具有β放射源銷售資質(zhì)的企業(yè):
                       
       
      涂布質(zhì)量閉環(huán)控制
      控制目的:閉環(huán)控制器根據(jù)測厚儀給出的涂布面密度測量值,自動調(diào)節(jié)漿料輸送螺桿泵的泵速,使得縱向(走帶方向)涂布量在工藝標(biāo)準(zhǔn)要求的界限之內(nèi),避免超差,以達(dá)到提高涂布重量一致性,減少人工干預(yù)的目的。閉環(huán)控制的應(yīng)用效果如下:降低了對工人技術(shù)經(jīng)驗(yàn)的要求,可降低因經(jīng)驗(yàn)不足導(dǎo)致的殘次品率;可有效彌補(bǔ)因操作人員的工作疲勞造成的失誤;減少對人工的依賴,能夠達(dá)到減員增效的效果。
      控制原理:鑒于現(xiàn)有涂布機(jī)技術(shù)條件,影響涂布面密度一致性的因素主要是極片走帶方向,走帶方向重量一致性是靠泵速控制。測量儀通過檢測,經(jīng)PLC進(jìn)行運(yùn)算數(shù)據(jù)比對分析,來驅(qū)動伺服電機(jī)控制涂布機(jī)的上的泵速,從而達(dá)到閉環(huán)控制的效果。
      控制算法:針對在涂布量閉環(huán)控制中,由于傳輸?shù)难舆t,被控制對象具有純滯后性質(zhì)引起系統(tǒng)產(chǎn)生超調(diào)或者振蕩的特點(diǎn),采用基于史密斯補(bǔ)償?shù)膯紊窠?jīng)元PID控制策略,作為具有純滯后補(bǔ)償?shù)臄?shù)字控制器。

      電氣組成:測厚儀PLC給出的泵速信號可以采用數(shù)據(jù)信號或者標(biāo)準(zhǔn)變送信號,采用數(shù)據(jù)信號時用通訊接口(網(wǎng)絡(luò)接口或者標(biāo)準(zhǔn)串行口)傳送,采用標(biāo)準(zhǔn)變送信號時,與定量泵控制器的AD接口對接傳送。

       
      多架面密度測量儀同位測量系統(tǒng)
      測量原理:通過對掃描軌跡同位控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)多架測量儀對同一軌跡的涂布面密度的精確測量,通過同位測量數(shù)據(jù)相減即可得到每次單面涂布或者雙面面密度。適用于鋰電池正、負(fù)極片連續(xù)單雙面涂布精確測量。
      實(shí)現(xiàn)方法:多架系統(tǒng)中采用高精度、高分辨率光電編碼器精確檢測線速度,通過CAN總線實(shí)現(xiàn)快速實(shí)時數(shù)據(jù)傳輸,依據(jù)檢測維持掃描角度,從而保持前后兩個掃描架實(shí)現(xiàn)同點(diǎn)對應(yīng)檢測。同點(diǎn)對應(yīng)檢測所顯示的剖面,有利于工藝和質(zhì)量人員對兩個檢測點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行對比分析,從而發(fā)現(xiàn)問題,優(yōu)化工藝,提高質(zhì)量。
      主要參數(shù):
      1、  適用的涂布速度:**50m/min;
      2、  掃描同步精度:0.06mm;
      3、  同位測量軌跡**偏離:3-5mm。
                                          
                   
                                                           掃描軌跡
       
         人機(jī)交互
       

            

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      X/β射線面密度測量儀

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