• 比表面積及孔徑分布，是表征微納米粉體材料表面物性及孔結(jié)構(gòu)的重要參數(shù)之一，*常用、*可靠的方法是靜態(tài)容量法氣體吸附。JW-BK基礎型系列全自動比表面及孔徑分析儀即能準確可靠解決粉體材料比表面積及孔徑分析問題，根據(jù)測試功能不同可區(qū)分為JW-BK112、JW-BK122W、JW-BK222三種型號，其中，JW-BK122W型因配置有小量程10torr壓力傳感器，配合二級吸附泵技術(shù)，可有效分析0.7nm以上微孔材料的孔徑分布需求。
  　　低溫條件下（液氮或液氬等），在密閉的真空系統(tǒng)中，改變吸附質(zhì)氣體壓力，通過高精密壓力傳感器測量出樣品吸附氣體分子前后的壓力變化值，進而計算出氣體吸附量，描繪出等溫吸脫附曲線，應用各種物理分析模型進行比表面積及孔隙度分析。

孔徑范圍：0.35nm-500nm

比表面范圍：0.0005㎡/g-無上限

孔徑重復精度：≤0.02nm

比表面重復精度：≤±1%