熒光壽命測(cè)試儀（Quantaurus—Tau）

熒光壽命測(cè)試儀（Quantaurus—Tau）

    Quantaurus-Tau是一套測(cè)試ps至ms量級(jí)熒光壽命的系統(tǒng)。它的操作十分簡(jiǎn)單，只需將樣品放入樣品腔，在軟件中輸入幾個(gè)測(cè)試條件即可很快得到熒光壽命及光致發(fā)光光譜。一般典型實(shí)驗(yàn)可在60秒內(nèi)得到分析結(jié)果，**時(shí)間分辨率可達(dá)30-50ps.

應(yīng)用領(lǐng)域

    熒光壽命測(cè)試有著非常廣的應(yīng)用范圍。典型應(yīng)用包括研究有機(jī)金屬化合物分子內(nèi)或分子間的電荷運(yùn)動(dòng)機(jī)能量轉(zhuǎn)移，以及在有機(jī)電子發(fā)光器件開(kāi)發(fā)中材料的熒光及磷光壽命測(cè)試，熒光蛋白中的FRET（熒光共振能量轉(zhuǎn)移）以及太陽(yáng)能電池及LED行業(yè)中的半導(dǎo)體化合物的測(cè)試。

參數(shù)

 波長(zhǎng)范圍          300-800nm（標(biāo)準(zhǔn)型）、380-1030（近紅外型）

激發(fā)光源          7個(gè)波長(zhǎng)LED光源（280nm, 340nm, 365nm, 405nm, 470nm, 590nm或

                  630nm）

激發(fā)光源選擇      軟件控制

單色儀            Czerny-Turner型單色儀

測(cè)量時(shí)間范圍      2.5 ns – 50 us

磷光測(cè)試          50 us – 50 ms

偏振光測(cè)試       磷光激發(fā)波長(zhǎng)（280nm, 340nm, 370nm, 405nm, 445nm, 470, 590nm或

                 630nm），支持紫外測(cè)試（選配：A11552-02）

時(shí)間軸通道數(shù)      512ch，1024ch，2048ch，4096ch

整體時(shí)間分辨率    <1ns（IRF FWHM）解卷積后100ps

分析功能          熒光壽命分析及光譜分析

特性

利用單光子計(jì)數(shù)技術(shù)實(shí)現(xiàn)高靈敏度，高速度的測(cè)試

時(shí)間分辨率優(yōu)于50ps

可以測(cè)試低溫液體樣品（-196℃）

熒光各向異性時(shí)間分辨測(cè)試

熒光至磷光壽命測(cè)試

集成化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)便化操作，性能穩(wěn)定

產(chǎn)品原理

從有機(jī)材料或熒光探針中得到的熒光光譜（峰值波長(zhǎng)及熒光強(qiáng)度等）是控制和評(píng)估材料的功能及特性的重要參數(shù)。然而，熒光光譜通常顯示的是時(shí)間積分的結(jié)果，因此，當(dāng)材料包含多種物質(zhì)及活性元素時(shí)，這些物質(zhì)及元素的熒光光譜只能以累積的形式表現(xiàn)出來(lái)。在這種情況下進(jìn)行分析的一個(gè)有效手段是通過(guò)使用時(shí)間軸參數(shù)來(lái)觀察發(fā)光的動(dòng)態(tài)信息。這種方法通常也被稱為熒光壽命測(cè)試，其中物質(zhì)被脈沖光源激發(fā)并回到基態(tài)的過(guò)程可以在ps至ms的時(shí)間尺度內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，這樣甚至可以得到在相同波長(zhǎng)及濃度下的多個(gè)不同的熒光壽命。