粉體行業在線展覽
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Advance Riko ZEM-5
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凱戈納斯儀器商貿（上海）有限公司
面議
Advance Riko ZEM-5
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評估半導體、陶瓷、金屬等材料的熱電性能。
ZEM-5 Series塞貝克系數/電阻測量系統可以對高溫材料，高電阻材料，薄膜材料等多種材料進行測量。
應用：
評估半導體、陶瓷、金屬等材料的熱電性能。
特性：
1. 應用于各種材料的特性及特殊規格的薄膜等；
2. 測試Si系列(SiGe, MgSi). (HT 型) 的材料的**溫度傳感器是使用C型熱電偶；
3. 標配V-I圖自檢測系統；
4. **測試溫度1200℃（HT 型）；
5. **測量電阻10MΩ（HR 型）；
6. 測量在襯底上的熱電沉積膜（TF 型）；
7. 溫控范圍在-150℃~200℃（LT 型）；
設備參數：
型號 | ZEM-5HT | ZEM-5HR | ZEM-5LT | ZEM-5TF |
特點 | 高溫 | 高電阻 | 中低溫 | 薄膜 |
溫度范圍 | 100~1200℃ | 50~800℃ | -150~200℃ | 50~500℃ |
工作氣氛 | 低壓He氣 | |||
試樣尺寸 | Square 2-4 mm or φ2-4 mm × 3-15 mm L | 基質沉積： 2-4 mm W × 0.4-1.2 mm t × 20 mm L 薄膜厚度：納米級或更厚 ※試樣和基底之間需要絕緣層； | ||
Seebeck系數測量方法 設備參數（HT型）
LHTG/LHTM/LHTW
Empyrean
V-Sorb4800-金埃譜
Hydrolink
Autoflex R837
3H-2000A
SQL810C/1010C
D70
UNI800B
Tunable PowerArc
電磁波波譜濃度儀
