ZEM-3 Series可同時測量熱電材料的塞貝克系數和電導率；該系列設備具備精度高，易于使用等特點；熱電材料塞貝克系數的測量方法是基于JIS標準。

應用：

評估半導體、陶瓷、金屬等材料的熱電性能。

特點：

1. 使用高精度的紅外金面反射爐和微加熱器進行溫差控制；

2. 歐姆接觸V-I自檢系統；

3.測量由電腦控制，可以在指定的溫度和溫差系進行測量，并消除黑暗電動勢的影響。

設備型號：

測量實例 P型Si₈₀Ge₂₀ ：