納米薄膜熱導(dǎo)率測試系統(tǒng)-TCN-2ω

納米薄膜熱導(dǎo)率測試系統(tǒng)應(yīng)用：

1. 熱設(shè)計用薄膜熱導(dǎo)率評價的優(yōu)先選擇。

low-k薄膜，有機(jī)薄膜，熱電材料薄膜

2. 可用于評價熱電轉(zhuǎn)換薄膜

納米薄膜熱導(dǎo)率測試系統(tǒng)測量原理：

當(dāng)使用頻率為f的電流周期加熱金屬薄膜時，熱流的頻率將為電流頻率的2倍（2f）。如果樣品由金屬薄膜（0）-樣品薄膜（1）-基體（s）組成（如圖），可由一維熱導(dǎo)模型計算出金屬薄膜上表面的溫度變化T(0)。

假設(shè)熱量全部傳導(dǎo)到基體，則T(0)可由下式計算：

（λ/Wm^-1K^-1，C/JK^-1m^-3，q/Wm^-3，d/m，ω（=2πf）/s^-1）

式中實(shí)部（同相振幅）包含樣品薄膜的信息。如熱量全部傳導(dǎo)到基體，則同相振幅正比于(2 ω)0.5，薄膜的熱導(dǎo)率（λ1）可由下式給出：

（m：斜率，n：截距）