真理光學(xué)APC 610氣載顆粒計(jì)數(shù)器

目前已有的光阻法顆粒計(jì)數(shù)器已經(jīng)廣泛應(yīng)用于無塵室的空氣中顆粒（氣載顆粒）監(jiān)控, 但是由于光路原理和采樣算法等局限設(shè)計(jì), 現(xiàn)有的光阻法儀器無法對空氣中的大顆粒進(jìn)行較為準(zhǔn)確的采樣以及測量。
本儀器基于顆粒消光原理，采用**的光學(xué)空間低通濾波硬件技術(shù)，結(jié)合衍射修正算法**，能準(zhǔn)確測量微米級氣載顆粒的粒度分布和個(gè)數(shù)，覆蓋了當(dāng)前儀器市場上未能監(jiān)控大顆粒的痛點(diǎn)。

APC 610氣載顆粒計(jì)數(shù)器vs傳統(tǒng)光阻法顆粒計(jì)數(shù)器