儀器簡介：

本款碳同位素分析儀是一款整合第五代光腔衰蕩光譜技術和前端燃燒氧化技術測量碳同位素比率和總碳的分析系統。碳方案解決成為目前很簡單實用的同位素分析系統，相比同位素比質譜儀（IRMS）也是客戶擁有成本極低的同位素分析系統。可用于固相和氣相樣品分析。

前端燃燒氧化裝置產生的氣體導入前處理裝置，然后通過軟件控制輸送到分析儀完成同位素比率及濃度測量。不需要引入已知同位素比率的參比氣體，允許在樣品序列上引入參比氣體，以便為研究者能更好地對測量結果與質譜儀進行對比，完成自質譜儀到同位素分析儀使用觀念的轉變。

技術參數：

測量技術：第五代光腔衰蕩光譜技術

δ13C：典型精度0.2-0.3 σ；確保精度＜0.3 σ*

樣品量：≥250 μgC（確保精度）；400 μgC（典型精度）

測量范圍：0-3600ppmv（確保精度在3000ppm）

測量間隔：9min（除非前端預處理裝置限制）

載氣流速：<90 mlmin，@760torr n2

取樣壓力：250~1000托

取樣濕度：<99% R.H，無冷凝@40°C，無需干燥

輸出：RS-232，網卡，USB， 模擬輸出（可選）4-20mA / -10~10V

重量：73.8kg

耗電：80-120VAC，50/60 Hz & 220，50 Hz

主要特點：

高精度測量腔室體積：30mL

整合前端燃燒氧化技術和第五代光腔衰蕩光譜技術

準確測量δ13C 和TC（TIC）

高通量測量

ppb級超高靈敏度、精確度和準確度，基本無漂移

安裝快捷，方便簡單-整個系統的配置僅需要幾分鐘的時間

固體樣品自動進樣裝置，可無人值守全自動進行測量

購買成本比EA-IRMS少2-3倍的，無后期投入