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TESCAN TIMA-X FEG(GM) 綜合礦物分析儀

TESCAN TIMA-X FEG(GM)

直接聯(lián)系

泰思肯貿(mào)易（上海）有限公司.

歐洲

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)

參考報(bào)價(jià)：

500萬以上

型號(hào)：

TESCAN TIMA-X FEG(GM)

關(guān)注度：

12091

范圍（量程或細(xì)度）：

應(yīng)用行業(yè)：

應(yīng)用范圍很寬，包括礦石性質(zhì)、工藝優(yōu)化、修復(fù)、貴金屬和稀土的尋找等。

產(chǎn)品介紹

二次電子圖象分辨率	1.2nm @ 30keV	放大倍數(shù)	1~1,000,000 x
背散射電子圖像分辨率	2.0nm @ 15keV	加速電壓	0.2~30 kV

產(chǎn)地屬性	歐洲	儀器種類	場(chǎng)發(fā)射
價(jià)格范圍	500萬-700萬

TESCAN綜合礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動(dòng)礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。TIMA可以對(duì)塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動(dòng)礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。

TIMA的應(yīng)用范圍很寬，包括礦石性質(zhì)、工藝優(yōu)化、修復(fù)、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的獨(dú)特技術(shù)是基于一個(gè)完全集成的EDX系統(tǒng)執(zhí)行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術(shù)提供了****的數(shù)據(jù)采集速度，進(jìn)而得到快速、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果。

TIMA硬件

TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場(chǎng)發(fā)射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設(shè)計(jì)（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發(fā)射的穩(wěn)定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統(tǒng)提供高真空模式為標(biāo)準(zhǔn)，低真空模式為選配。

大樣品室、由計(jì)算機(jī)控制的超快樣品臺(tái)、礦物樣品支持器的特殊設(shè)計(jì)。樣品臺(tái)可以同時(shí)容納7塊直徑**為30mm的樣品。樣品臺(tái)內(nèi)可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺(tái)有EDX/BSE校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)、鉑Faraday筒（BSE信號(hào)校準(zhǔn)）與錳、銅、石英、碳和金元素（系統(tǒng)性能檢查）。標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的元素可以根據(jù)客戶要求定制。

配件：

二次電子探頭
背散射電子探頭
探針電流測(cè)量
壓差式防碰撞報(bào)警裝置
可觀察樣品室內(nèi)部的紅外線攝像頭等，各種配件可供選擇

產(chǎn)品咨詢

TESCAN TIMA-X FEG(GM) 綜合礦物分析儀

TESCAN TIMA-X FEG(GM)

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