高靈敏度XRF重金屬分析儀（HS XRF^®）

一、概述

核心技術：

硬件：單色化聚焦技術HS XRF^®

軟件：快速基本參數法Fast FP^®

PHECDA-PRO

l硬件核心技術：單色化聚焦激發技術

全聚焦雙曲面彎晶僅衍射X射線管出射譜中高強特征X射線，將入射到樣品的X射線單色化并聚焦到樣品一點，因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發產生的熒光X射線和單色化入射譜線的散射線外，不存在連續散射背景，從而保證待測元素特征線具有極低的背景干擾。

單色化聚焦激發技術

l軟件核心技術：快速基本參數法

XRF法面臨的難題是基體效應、元素間吸收-增強效應、標準樣品欠缺等問題，對于不同類型樣品的定量分析帶來挑戰。

快速基本參數法（Fast FP^®）通過對X射線熒光光譜從產生到探測的各個環節進行計算，將物理學明確的物理現象建立相應的數學模型，基本參數法消除了由于不同類型樣品基體差異所產生的背景差異，減少分析誤差，通過少數標準品的校正即可得到元素精確定量分析結果。 Fast FP快速基本參數法

二、應用領域與解決方案

高靈敏度XRF重金屬分析儀PHECDA與快速基本參數法聯用提供行業解決方案：

三、特點優勢

高靈敏度XRF重金屬分析儀具備重金屬痕量檢測能力，快速基本參數法（Fast FP）提升了元素精確定量水平，兩項關鍵技術的結合，為XRF元素檢測帶來新的應用前景。

l單色化聚集激發技術

高靈敏度XRF重金屬分析儀采用雙曲面彎晶單色化器，優化元素的激發效率與減少X射線管連續散射線背景，提升元素熒光射線的信噪比。

l采用**性能SDD探測器

硅漂移探測器（SDD）是能量色散X射線熒光光譜儀的核心部件，其性能取決于晶體面積、**計數率、分辨率等，PHECDA 系列采用當今**性能的SDD探測器，確保元素分析性能。

lFast FP算法

XRF分析的困難點是元素熒光強度不僅與樣品中元素含量相關，也與其它元素含量有關，這就是所謂的基體吸收-增強效應，而這種物理效應，使得選擇合適的標準樣品成為困難，若選擇的標準樣品基體不一致、不能含蓋待測樣品的各元素含量范圍，就會對實際樣品分析帶來誤差。

基本參數法（Fundamental parameters method）通過對X射線熒光光譜從產生到探測的各個環節進行計算，建立相應的數學模型，基本參數法消除了由于不同類型樣品基體差異所產生的背景差異，減少分析誤差，通過少數標準品的校正即可得到元素定量分析結果。

l優化鎘元素檢出能力

鎘是有毒重金屬，在環境保護和食品安全等領域備受關注，常規XRF對鎘（Kα：23.1KeV）的激發和探測存在挑戰，高靈敏度XRF重金屬分析儀通過對鎘的單色化聚焦激發，對鎘的檢出限達到****的0.06mg/kg水平。

l便攜性

無需氣體、真空等輔助設備

**程度保證現場檢測要求

四、應用

l痕量元素檢出能力

單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀是安科慧生的**技術，依賴全聚焦性雙曲面彎晶單色化聚焦技術，提升元素信號強度的同時大幅降低散射線背景，大幅提升樣品元素信噪比，從而將XRF對元素分析延伸至微量和痕量應用領域。

l軟件精確定量能力

安科慧生科研人員歷時十幾年開發當今*為先進的快速基本參數法（Fast FP），其通過對X射線熒光光譜從產生到探測的各個環節進行計算，建立相應的數學模型，快速基本參數法消除了由于不同類型樣品基體差異所產生的背景差異，減少分析誤差，通過少數標準品的校正即可得到元素定量分析結果。

聲明：1.高靈敏度X射線熒光光譜儀是安科慧生***，任何侵權行為有可能訴訟法律解決；

2.詳細技術參數與應用，請隨時與安科慧生工作人員聯系！