薄膜硅涂布量測(cè)試儀YL-X300

離型膜硅涂布量測(cè)試儀 越聯(lián)儀器生產(chǎn)

設(shè)備的測(cè)試原理：

YL-X300通過軟件程序控制，讓X射線發(fā)生路產(chǎn)生適合的X射線去激發(fā)測(cè)試薄膜材料中的S或者其他元素，被X射線激發(fā)后變?yōu)椴环€(wěn)定態(tài)，高能層的電子會(huì)躍遷到空穴并同時(shí)釋放特定能量被探測(cè)器接收，因每個(gè)元素都有自已特定的能量特征線，通過探測(cè)器的識(shí)別，計(jì)算機(jī)軟件的計(jì)算，即可準(zhǔn)確識(shí)別該元素，并計(jì)算出含量。

YL-X300采用了大面積的晶體硅漂移探測(cè)器，分辨率能夠達(dá)到125eV，能分辨A(鋁)元素和Si(硅)元素。

設(shè)備優(yōu)勢(shì)及特點(diǎn)：

1、測(cè)試采用 射線熒光光譜原理，測(cè)試過程無需耗材；

2、光管垂直照射，硅元素性能得到更強(qiáng)激發(fā)；

3、測(cè)試下限好，可準(zhǔn)確測(cè)量0.1g/m的涂硅量；’

4、采用大面積硅漂移探測(cè)器，測(cè)試結(jié)果極其準(zhǔn)確；

5、快速采用新的模型算法，大大提高了輕元素的測(cè)量穩(wěn)定性；

6、配置高清液晶顯示器，測(cè)試過程和測(cè)試結(jié)果一目了然；

7、設(shè)備集成多個(gè)usb接口。數(shù)據(jù)和通訊傳輸滿足多種要求；

8、空氣光路的內(nèi)部環(huán)境得到顯著優(yōu)化，大氣環(huán)境一樣可以直接測(cè)試；

9、一鍵測(cè)試，操作簡(jiǎn)單智能，測(cè)試過程使用時(shí)間更短，結(jié)果更準(zhǔn)確。

應(yīng)用方向及領(lǐng)域：

1、各種薄膜、離型膜、淋膜!I等硅油涂布量的測(cè)定；

2、各種薄膜生產(chǎn)過程中Si、AI元素等比例量的測(cè)定；

3、電子產(chǎn)品S硫化物的殘留余量的測(cè)定；

4、電子產(chǎn)品保護(hù)膜硅油殘余量的測(cè)定。