X-Ray熒光測厚儀，通過X射線原理，是目前*方便快捷的鍍層測厚方法，產品無須破壞，約20秒完成測量整個過程。博曼測厚儀，2009年，位于美國芝加哥的團隊，創立了博曼Bowman，在原CMI的基礎上，研發更名為博曼，更為高端的精密XRF鍍層測厚儀。2012年發布了全新BA-100系列機型，使用SDD探測器技術XRF系統，是**性價比機型。美國博曼鍍層測厚儀，也叫膜厚儀，源自于CMI牛津團隊，2018年博曼發布了全球*小光斑7.5um FWHM的多導毛細管機型，完善了從經濟型號到端型號的系列產品線，團隊深耕XRF鍍層測厚儀事業三十余年，曾經創立了測厚儀全球知名的CMI品牌，具有代表性的機型。