国产太嫩了在线观看,婷婷综合亚洲,婷婷色综合成人成人网小说

Semiconsoft MProbe薄膜測厚儀

直接聯系

廣州市固潤光電科技有限公司

美國

產品規格型號

參考報價：

面議

關注度：

1586

產品介紹

Semiconsoft MProbe薄膜測厚儀

M p r o b e 讓你成為測量專家 !

大部分半透明的或具有輕微吸收性的薄膜能夠被快速、可靠的測量：

氧化物、氮化物、感光耐蝕膜、聚合物、半導體(Si， aSi，polySi)、半導體化合物(AlGaAs，InGaAs，CdTe，CIGS)、硬涂層(SiC， DLC)，聚合物涂料 (Paralene，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)，薄金屬薄膜等。

厚度范圍: 1 nm-1 mm

波長范圍: 200nm -5000nm

在薄膜太陽能電池中的應用:

aSi， TCO， CIGS， CdS， CdTe-全太陽能堆棧測量

LCD， FPD應用:

ITO，細胞間隙，聚酰胺。

光學涂層:

介質濾波器，硬涂層，防反射涂層半導體和電解質: 氧化物，氮化物， OLED堆。

實時測量和分析。各種多層次的，高強度的，厚的，獨立和不均勻的層。

豐富的材料庫 (500多種材料) – 新材料容易增添。

支持參數化材料:

Cauchy， Tauc-Lorentz， Cody-Lorentz， EMA 等?

使用靈活:

可聯網在操作臺桌面或現場進行研究與開發。用TCP或Modbus接口能容易的和外部系統連接。

測量參數：

厚度、光學常數、表面粗糙度。

界面友好強大:

測量和分析設置簡單。背景和縮放修正，連接層和材料。

離線數據分析：

仿真和靈敏度分析，多樣品測量，生產批量處理。

MProbe系統示意圖

主要參數

模型	波長	范圍光譜儀探測器/檢測器/光源	厚度范圍 *
VIS	400-1100 nm	分光儀 F4/Si 3600像素點/ 鎢-鹵素光源	15 nm to 20 mm (option:up to 50 mm)
UVVisSR	200-1100 nm	分光儀 F4/ Si CCD 3600 像素點/氘-鎢鹵組合式光源	3 nm to 20 mm (option:up to 50 mm)
HRVIS	700-1000 nm	HR分光儀F4/Si 3600 像素點/ 鎢-鹵素光源	1 mm to 400 mm
NIR	900-1700nm	傳輸光譜儀(TVG) F2/512 InGaAs/鎢-鹵素光源	100 nm-200 mm
VISNIR	400-1700 nm	分光儀 F4 Si CCD 3600 像素點 (Vischannel)；傳輸光譜儀(TVG) F2/512 InGaAs PDA( NIR channel) 鎢-鹵素光源	15 nm to 200 mm
UVVISNIR	200 -1700 nm	分光儀F4 Si CCD 3600 像素點(Vis頻道);傳輸氘-鎢鹵組合式光源	3 nm -200 mm
NIRScan	900nm -5000nm	掃描分光計/InGaAs/ MCT 探測器 (掃描時間 <60 秒 ) TH-SiN光源	100 nm -800 mm
XT	XT 1590nm -1650nm	傳輸光譜儀 (TVG) F2/512 InGaAs/鎢 -鹵素光源	10 mm- 1 mm

* T， n & k 測量的厚度范圍為25nm – 5um

其他配置也是可以做到，歡迎原始設備制造商咨詢和定制開發項目。

對所有系統中的配件有一年的質量保證。