粉體行業在線展覽
Mars 4400
面議
中電科風華
Mars 4400
645
產品描述:SiC晶圓腐蝕后的位錯檢測設備。設備采用微分干涉相差的光學顯微成像技術,可進行全片掃描并采集完整數據,計算并自動統計位錯數量與密度,生成位錯密度圖。
產品參數:
應用范圍:SiC襯底切割片、研磨片、拋光片的位錯檢測分析(經KOH腐蝕)
可測晶片尺寸:標準4,6,8英寸及其它非標尺寸
Mars 4400
PDI-10半導體檢測設備
Mars 4410/Mars 4420
Saturn 3510
全自動汽車B柱貼合組裝生產線
筆電(NB)系列背光生產線
GTJ-360自動上框貼膠機
ZBZ-15E自動BLU前工序組裝機
ZTD-15E自動BLU疊片機
車載系列背光生產線
OLED智能穿戴產品自動邦定生產線
在線式中小尺寸全自動邦定生產線