EFPscan-2000適合大面積板狀物的高分辨率快速3D斷層檢測

EFPscan-2000是面向PCBA和IGBT領域的3D X-ray檢測系統，采用了先進的Computed Laminography（CL）掃描模式和重建算法，可以在離線、線邊和在線應用，對全板進行檢測。適用于BGA/LGA、pressfit connector、Flip chip、PoP、QFN、PTH、IGBT等電子器件檢測，發現器件內部的氣孔、開路、橋連、枕頭效應、潤濕不良、缺件、錯件等缺陷。