粉體行業(yè)在線展覽
面議
2012
高頻特性阻抗測(cè)試儀ZK2130是采用時(shí)域反射技術(shù)設(shè)計(jì)的,能夠批量化、自動(dòng)化、快速、準(zhǔn)確測(cè)試PCB跡線的特性阻抗,并提供測(cè)試波形分析、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)、自動(dòng)出具檢測(cè)報(bào)告并打印等功能。適用于電路板制造廠商的研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)及品管單位。為高頻線路板特性阻抗測(cè)試提供了一套快速、準(zhǔn)確、標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)濟(jì)的解決方案。
數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能 SPC功能模塊
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