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BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀
面議
丹東百特
BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀
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產(chǎn)品介紹
BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀 是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的**光學(xué)檢測系統(tǒng)。 該系統(tǒng)中集成了背向 +90°動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準(zhǔn)確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分 布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可 廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的 基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。
基本性能指標(biāo)
1、粒徑檢測
| 粒徑范圍 | 0.3 nm - 15 μm* |
| 樣品量 | *小3μL,常規(guī)1ml(可訂制其它容量)* |
| 檢測角度 | 173°+90°+11.2°(可對應(yīng)高濃度粒度和低濃度粒度) |
| 樣品濃度 | ≤40%(W/V)* |
| 粒徑算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
2、Zate電位測試
| Zeta范圍 | 無實(shí)際限制 |
| 原理 | 相位分析光散射PALS |
| 電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
| 電導(dǎo)率范圍 | 0 - ≥270 mS/cm * |
| Zeta測試粒徑范圍 | 1 nm – >120 μm * |
3、分子量測試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da * |
4、微流變測試
| 測試能力 | 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃俊?fù)數(shù)粘度 |
5、趨勢測試
| 溫度趨勢 | 粒度與Zeta電位隨溫度變化趨勢,自動檢測溫度轉(zhuǎn)變點(diǎn)Tm |
| 時(shí)間趨勢 | 粒度與Zeta電位隨時(shí)間的變化趨勢 |
| pH值趨勢 | 粒度與Zeta電位隨pH值的變化趨勢 * |
6、系統(tǒng)參數(shù)
| 溫控范圍 | -15°C - 120°C |
| 冷凝控制 | 干燥空氣或者氮?dú)?/td> |
| 激光器 | 高性能固體激光器,波長671nm(不同波長激光器可選) |
| 相關(guān)器 | 快、中、慢多模式,*快25 ns采樣,*多 4000通道,1011動態(tài)線性范圍 |
| 檢測器 | APD |
| 光強(qiáng)控制 | 0.0001% -100%,自動或手動控制 |
| * 依賴于樣品和選件 | |
檢測參數(shù)
動態(tài)光散射
●流體力學(xué)尺寸 Dh
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●顆粒間相互作用力因子 kd
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
●計(jì)算分子量
●溶液粘度和折射率
●流變學(xué)信息G*,G‘,G“,η*,J
電泳光散射
●Zeta電位及其分布
●帶電顆粒的電泳遷移率
趨勢測試
● Zeta電位和粒徑的pH滴定
● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試
靜態(tài)光散射
● **分子量Mn、Mw、Mz
● 分子量分布
● 第二維利系數(shù)A2
選配件
● 動靜態(tài)流動模式
BeNano動靜態(tài)流動模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離,依次流出。通過檢測每個(gè)流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號,并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號,得到高分辨率且不依賴于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

● BAT-1自動滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動化的酸堿滴定測試,具有測試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。

● BeScan穩(wěn)定性分析儀
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測時(shí)間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

相關(guān)技術(shù)

BT-2900動態(tài)圖像粒度粒形分析系統(tǒng)
BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀
BT-1500離心沉降式粒度分布儀
BT-103 粉體休止角測試儀
BT-102金屬粉末流動性測定儀(霍爾流速計(jì))
BT-101 松密度測試儀(斯科特法)
BT-100通用粉體松裝密度測試儀
BeNano 90 納米粒度分析儀
BTPM-HS10 多濾膜PM2.5和PM10標(biāo)準(zhǔn)采樣器(10濾膜)
BTPM-AWS2智能恒溫恒濕稱重系統(tǒng)
BTPM-AWS1濾膜自動稱重系統(tǒng)
BTPM-MWS1濾膜半自動稱重系統(tǒng)
BeNano 180 Zeta Pro
PSS Nicomp 380 Z3000
winner601
NS-90Z
ZetaProbe?
SZ-100系列
Nanolink SZ901
DT300/310
SurPASS 3
Zeta-Meter 4.0+
JS94系列
ZetaFinder ZF400型