v 主要性能特點

1、同時分析測量多種元素（從F到U的任意多種元素）；

2、采用上照式設(shè)計，徹底避免污染，操作方便，無需維護(hù)；

3、對樣品進(jìn)行無損分析，分析方便快捷；

4、全自動機(jī)電一體化設(shè)計，操作界面簡單；

5、單樣品自動進(jìn)樣，自動檢測，采用多層保護(hù)完全屏蔽X射線對人體的輻射；

6、良好的溫度控制設(shè)備，儀器對外界的氣溫變化不敏感；

7、對樣品形態(tài)要求少，固體、液體、粉末樣品均可以直接檢測，無需復(fù)雜的制樣過程；

8、采用SDD探測器，分析速度快，精確度高，穩(wěn)定性好，故障率低；

9、WINDOWS系統(tǒng)下的中文操作軟件，方便國內(nèi)用戶使用。不同層次的操作員可隨時調(diào)用相關(guān)幫助菜單來指導(dǎo)對儀器的操作。

v 儀器主要構(gòu)成圖

v 主要技術(shù)指標(biāo)：

1． 探測器

? SDD硅漂移探測器（電制冷，只需要通電即可）

? 典型分辨率：123ev,133ev(50000CPS).

? 輸入計數(shù)率：1000KCPS，遠(yuǎn)大于Si-Pin與Si-Li(是其10倍左右)

? 峰背比：>25000

? 碳窗厚度：1um Dura 碳（一般的探測器在25um,對輕元素有更好的透過率，獨(dú)特的Dura技術(shù)

?  碳窗可以耐酸，堿的腐蝕）

? 處理器：數(shù)字電路，放大倍數(shù)，時間常數(shù)可任意設(shè)置。

? 高壽命，借助于其獨(dú)特的Dura碳技術(shù)，探測器在幾年的時間內(nèi)探測器的真空不會變壞，晶體不會損傷，無需擔(dān)心后期的維護(hù)費(fèi)用

2.X射線管

? 高壓：0-50Kv連續(xù)可調(diào)

? 電流：0-1000uA連續(xù)可調(diào) （0-2500uA可選，大電流對Na-K有更好的激發(fā)效果）

? 功率：50W

? 穩(wěn)定性：8小時0.2%

? 高壽命，正確操作的情況下壽命可以達(dá)到50000小時

2． 高壓發(fā)生器

? 輸入電壓：24VDC

? 輸入電流：4A

? 輸出電壓：50Kv，1mA(2.5mA可選，適配2500mA光管)

? **功率：50W

? 穩(wěn)定性：8小時0.05%

3． 精密結(jié)構(gòu)設(shè)計

? 垂直倒角設(shè)計，精密的控制保證優(yōu)異的重復(fù)性，上照式設(shè)計可以完全避免灰塵的污染，使得儀器可以做到真正的免維護(hù)

4． 冷卻散熱系統(tǒng)

? 良好的多級溫控自反饋電路，室溫在5-25℃，儀器結(jié)果不會有影響。

5． 自動進(jìn)樣系統(tǒng)

? 單樣品自動進(jìn)樣

6．  光譜分析系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)

? 12位模/數(shù)轉(zhuǎn)換器

? 19英寸顯示器

? 500G以上硬盤驅(qū)動

? 多功能標(biāo)準(zhǔn)鍵盤

? 打印機(jī)

7．  分析軟件

? 元素測量范圍：F-U

? 可以測量鍍層厚度

? 標(biāo)準(zhǔn)曲線法，理論系數(shù)法，基本參數(shù)法，多元比例法 使您輕松應(yīng)對各種樣品的分析

? 開放式軟件設(shè)計，您可以自己開發(fā)新的工作曲線

? 內(nèi)置式參數(shù)設(shè)計，您在自己制作工作曲線時，各種干擾自動扣除。

8． 尺寸規(guī)格

? 長544mm寬572mm(含推手）高1152mm   

? 重量約110kg

9． 電源要求

? 220V±10% 50Hz

10． 工作環(huán)境

? 溫度范圍：5—30℃。

? 相對濕度小于等于80%