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      >馬爾文Zetasizer Nano ZS納米粒度電位儀

      馬爾文Zetasizer Nano ZS納米粒度電位儀

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      杭州紐藍科技有限公司

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      產品介紹:

      納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀

      Zetasizer Nano ZS是一臺高性能雙角度顆粒粒度及分子大小分析儀,采用動態光散射法,結合“NIBS”光學器件,可增強對聚集體的檢測,還可測量小尺寸或稀釋樣品,以及極低濃度或高濃度樣品。 ZSP還包含了電泳光散射法表征顆粒、分子及表面檢測的zeta電位分析儀,以及靜態光散射法表征分子量。

      與使用90度散射光學器件的系統相比,該系統采用非侵入式背散射光學器件(NIBS),使性能得到顯著提升。另外,提供的微觀流變學選件可測量樣品粘性與粘彈特性,以及可進行蛋白質遷移率測量的蛋白質測量選件。流動模式選件使該系統可與SEC或FFF系統連接,作為蛋白質或納米顆粒粒度檢測器使用。此外,還有用于粘性或高濃度樣品或表面zeta電位測量的樣品池可供選擇,從可拋棄性樣品池到特定的樣品池,一應俱全。

      Zetasizer Nano ZS在一個單一的緊湊裝置中包含了三種技術,且擁有一系列選件及附件,以便優化并簡化不同樣品類型的測量。

      動態光散射法用于測量粒度及分子大小。 該技術可測量布郎運動下移動顆粒的擴散情況,并采用斯托克斯-愛因斯坦關系將其轉化為粒度與粒度分布。 內置的非侵入式背散射技術(NIBS)使系統具有**的靈敏度以及**的粒度及濃度范圍。

      檢測粒徑隨濃度的變化還可以得到動態光散射相互作用力因子Kd。

      微流變選件采用DLS檢測蹤粒子的運動,以得到極稀的聚合物與蛋白質溶液的結構。

      激光多普勒微量電泳法可用于測量zeta電位。 分子和顆粒在施加的電場作用下做電泳運動,其運動速度和zeta電位直接相關 使用**型激光相干技術 M3-PALS (相位分析光散射法)檢測其速率。 從而實現電泳遷移率的計算,并得出ZETA電位及ZETA電位分布情況。

      表面zeta電位附件使用示蹤粒子來測量靠近樣品表面的電滲并計算表面的zeta電位。

      靜態光散射法用于確定蛋白質與聚合物的分子量。 在此檢測方法中,檢測不同濃度下樣品的散射光強,并且繪制Debye曲線。 由此,可計算出平均分子量及第二維里系數,從而得到分子溶解程度。

      該技術對整個系統的靈敏度及穩定性要求極高,并需要對設計的每個元件進行優化,以確保精確性及重復性。

      主要參數:

      測量的參數:

      顆粒和分子尺寸、平動擴散、電泳遷移率、高低濃度下顆粒的zeta電位、高分子和蛋白質溶液的粘度和粘彈性、濃度、分子量、A2, kD。

      顆粒粒度及分子大小

      測量范圍:0.3nm-10.0μm*(直徑)

      測量原理:動態光散射法

      *小樣品容積:12μL

      精確度:優于NIST可追溯膠乳標準的+/-2%

      精確度 / 可重復性:優于NIST可追溯膠乳標準的+/-2%

      靈敏度:0.1mg/mL

      • (溶菌酶)Zeta 電位 (以及選裝的蛋白質遷移率)

      • 測量范圍:3.8nm - 100 微米*(直徑)

      • 測量原理:電泳光散射法

      • *小樣品容積:150μL(20μL ,采用擴散障礙法)

      • 精確度:0.12μm.cm/V.s,針對水性系統,采用NIST SRM1980標準參考物質

      • 靈敏度:10mg/mL (BSA)分子量

      • 測量范圍:980Da – 20M Da*

      • 測量原理:靜態光散射法,使用德拜圖

      • *小樣品容積:12μL(需要3-5種樣品濃度)

      • 精確度:+/- 10% 典型值

      微觀流變學(選件)

      • 測量原理:動態光散射法

      • *小樣品容積:12μL(僅DLS測量), ***范圍,以樣品為主

      常規:

      溫度控制范圍:0℃—90℃,+/-0.1**,120℃選裝

      光源:He—Ne激光器 633nm,**4mW

      • **:

      • Zetasizer Nano系列受以下**保護:|非侵入背散射 (NIBS)|EP884580,US6016195,JP11051843|高頻和低頻電泳 (M3)|EP1154266,US7217350,JP04727064 |使用同時檢測的光散射測量|EP2235501,CN102066901,JP2011523451,US20090251696|插入式樣品池表面電位測定|WO2012172330

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      馬爾文Zetasizer Nano ZS納米粒度電位儀

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