TESCAN CLARA 是一款適用性非常廣泛的掃描電子顯微鏡，能夠滿足各個科研和技術領域對不同材料進行高質(zhì)量成像和表征的需求。TESCAN CLARA 使用了 TESCAN BrightBeam™ 型 SEM 鏡筒，該鏡筒配置了可變比例式靜電-電磁復合物鏡，可以在低加速電壓下實現(xiàn)無漏磁超高分辨成像，這對于包括磁性樣品在內(nèi)的各類樣品具有廣泛的適用能力。

主要特點：

• 新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力

• **配置的靜電-電磁復合物鏡，物鏡無磁場外泄，實現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析

• 配置4個新一代探測器，可實現(xiàn)9種圖像觀測，對樣品信息的采集更加全面

• 配置大型樣品室，有超過20個擴展接口，為原位觀測、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境

• 可以配置 TESCAN 自有或第三方的多種擴展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL 以及實現(xiàn)與Raman聯(lián)用

• 模塊化 Essence™ 軟件，直觀易用，不同技術水平的用戶，均可輕松操作。

獨特的探測器系統(tǒng)

獨特的鏡筒內(nèi)探測器系統(tǒng)，可以根據(jù)能量和角度的不同選擇信號進行采集，獲得*全面的形貌和成分信息。Multidetector 探測器配有能量過濾器，可以實現(xiàn)二次電子信號和背散射電子信號的過濾以便增強材料襯度以及提高表面靈敏度，并能夠實現(xiàn)二次電子和背散射電子信號之間的實時切換。第二個鏡筒內(nèi)探測器 — 軸向探測器（Axial detector），能以高效率在任何著陸電壓下收集二次電子和背散射電子信號，且不會有明顯的信號損失，這樣即使在低著陸電壓下也能夠非常簡單的進行超高分辨二次電子成像。

TESCAN CLARA 使用了實時電子束追蹤技術(In Flight Beam Tracing™)和中間鏡技術(Intermediate Lens™)，可以廣泛適用于各類分析研究。TESCAN CLARA 能夠在高束流下（**可達400 nA）仍然保持高分辨成像，這點對于日常分析工作而言非常便利。TESCAN CLARA 是一款真正的多功能分析儀器，適用于納米材料的表征，高端制造業(yè)的嚴格質(zhì)控，以及各類研發(fā)工作。

軟件：

·測量軟件， 公差測量軟件

·圖像處理

·預設參數(shù)

·直方圖及LUT

·SharkSEM™ 基礎版 (遠程控制)

·3D 防碰撞模型軟件

·對象區(qū)域

·光電聯(lián)用

·定時關機

·CORAL™（用于生命科學的電鏡模塊）

·自動拼圖軟件

·樣品觀察

·TESCAN Flow™ (離線處理軟件)

根據(jù)實際配置和需求