布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！

高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供全球保證！

先進的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

技術指標：

●Theta/theta 立式測角儀

●2Theta角度范圍：-110~168°

●角度精度：0.0001度

●Cr/Co/Cu靶，標準尺寸光管

●探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器

●儀器尺寸：1868x1300x1135mm

●重量：770kg

應用:

●物相定性分析

●結晶度及非晶相含量分析

●結構精修及解析

●物相定量分析

●點陣參數精確測量

●無標樣定量分析

●微觀應變分析

●晶粒尺寸分析

●原位分析

●殘余應力

●低角度介孔材料測量

●織構及ODF分析

●薄膜掠入射

●薄膜反射率測量

●小角散射