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      測量/計量儀器
      
				
      >半導體芯片老化和邏輯測試系統
      
			
      
			
      
				
			
      
		
      
		
		
      
			
      
				
      半導體芯片老化和邏輯測試系統
      
				
      半導體芯片老化和邏輯測試系統
      
			
      
			
      
				
      
					
      
															
      
						
      
				
      
					
      直接聯系
      
					
      上海翱晶半導體科技有限公司
      
										
      上海
      
					
					
					
                    						
      
			
      
			
      產品規格型號
      
			
      
				
      
	
      參考報價：
      面議
      
	
      品牌：
      上海翱晶
      	
      型號：
      半導體芯片老化和邏輯測試系統
      	
      關注度：
      1166
      					
				
      
			
      
			
      產品介紹
      
			
      
				
      
					
      生產廠家：Aehr Test Systems
      從工藝到生產的解決方案：

      FOX-CP Single Wafer Stepping  Test & Burn-In System
      FOX-NP Dual WaferPak & Dual DiePak  Test & Burn-In System
      FOX-XP Multi WaferPak & Multi DiePak  Test & Burn-In System
      FOX-P WaferPak Contactors
      FOX-P DiePak Carrier

      				
      
						
      
			
		
      
		
		
      
			
      
				
      
					
				
      
				
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      半導體芯片老化和邏輯測試系統
      
						
      半導體芯片老化和邏輯測試系統
      
						上海翱晶半導體科技有限公司					
      
				
      
				
      
					
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      半導體芯片老化和邏輯測試系統 - 1166
      
				
			
      
			
      
				
      
					
					
					
									
      
					
      
					
      
			
		
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