粒子掃描系統(tǒng)PS-400C被廣泛用于顆粒（粒子）的光學(xué)質(zhì)量控制，對(duì)應(yīng)期望處理量的不同，系統(tǒng)可以檢測(cè)100微米以上的缺陷比如黑點(diǎn)、色差以及其他用戶定義缺陷， 并將缺陷分為10個(gè)尺寸級(jí)別。此系統(tǒng)設(shè)計(jì)用于粒子生產(chǎn)原料的質(zhì)量控制。所有的檢測(cè)過(guò)程全自動(dòng)執(zhí)行，每個(gè)粒子都無(wú)遺漏地被檢測(cè)分析。其主要應(yīng)用于

PS-400C由機(jī)械部分和控制工作站兩部分組成。機(jī)械裝置負(fù)責(zé)待檢測(cè)粒子的收集、分離并分散通過(guò)檢測(cè)單元。

工作站包含圖像處理單元和評(píng)估圖像的硬件，用戶界面如用戶對(duì)話框通過(guò)顯示器和鍵盤(pán)操作，圖像可以在顯示器上顯示出來(lái)。

粒子樣品先放置于料斗中，一個(gè)機(jī)械分離器使得粒子樣品分散通過(guò)檢測(cè)模塊，此處兩個(gè)相向配置的攝像機(jī)從兩面拍攝獲得材料的影像。