粉體行業在線展覽
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粉體行業在線展覽
nanoSAQLa
直接聯系
大塚電子（蘇州）有限公司
江蘇
面議
大塚電子
nanoSAQLa
5575
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特點
只需一臺，輕松實現5檢體連續測量
低濃度到高濃度都可對應
高速測量，標準時間1分鐘
搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)
內置非浸泡型的cell block，無分注夾雜物
搭載溫度梯度功能
測量范圍（理論值）
粒徑 0.6nm～10μm
濃度范圍 0.00001～40％
溫度范圍 0～90℃*
仕樣
| 型號 | 多檢體NANO粒徑測量系統 |
|---|---|
| 測量原理 | 動態光散射法 |
| 光源 | 高出力半導體激光*1 |
| 檢出器 | 高感光度APD |
| 連續測量 | 5檢體 |
| 測量范圍 | 0.6nm ～ 10μm |
| 對應濃度 | 0.00001 ～ 40% *2 |
| 溫度 | 0 ～ 90℃ （有溫度梯度功能） *3 |
| 規格 | 遵照 ISO 22412：2017 |
| 遵照JIS Z 8828：2013 | |
| 遵照JIS Z 8826：2005 | |
| 尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
| 重量 | 約18 kg |
| 軟件 | 平均粒徑解析 （累積法解析） |
| 粒度分布解析 | |
| （Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法） 粒度分布疊寫 逆相關函數?殘差plot 粒徑monitor 粒徑顯示范圍 （0.1 ～ 106 nm） 分子量計算功能 |
*1 根據激光安全基準 （JIS C6802）級別區分，本儀器的安全級別為1級。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黃膽酸：～40%
*3 標準glass cell的批量測量的情況。
一次性cell或連續測量時， 15 ～ 40℃ （不對應溫度梯度）
測量范例
BT-1600
Winner99E
Multisizer 4e
PIP8.1型
Morphologi 4
A-28
JX-2000
NKT-T180
QICPIC-RODOS/L
LA-960
XD6
CAMSIZER 3D
