BSD-PM研究級(jí)比表面及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門(mén)和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。

 BSD-PM1/2 靜態(tài)容量法 高性能比表面積及微孔分析儀

  產(chǎn)品概述：

  ◆ 測(cè)試功能：比表面積，孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià)

  ◆ 吸附質(zhì)種類(lèi)：各種非腐蝕性氣體測(cè)試

  ◆ 測(cè)試范圍：比表面積0.0005㎡/g以上，孔徑0.35-500nm

  ◆ 分析位數(shù)量：1/2個(gè)分析位；

 技術(shù)參數(shù) / Technical Parameter

  ◆ 測(cè)試功能：比表面積，孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià)

  ◆ 吸附質(zhì)種類(lèi)：各種非腐蝕性氣體測(cè)試

  ◆ 測(cè)試范圍：比表面積0.0005㎡/g以上，孔徑0.35-500nm

  ◆ 分析位數(shù)量：1/2個(gè)分析位；

  ◆ 脫氣站數(shù)量：2個(gè)預(yù)處理站；

  ◆ 獨(dú)立性：測(cè)試系統(tǒng)和脫氣系統(tǒng)相互獨(dú)立，樣品的測(cè)試過(guò)程和脫氣處理可同時(shí)進(jìn)行；

  ◆ 測(cè)試精度：比表面積≤±1.0%、*可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.15nm、真密度 ≤±0.04%、外表面積≤±1.5

  ◆ 獨(dú) 立P0站：具有**技術(shù)的獨(dú)立螺旋狀飽和蒸汽壓(P0)測(cè)試站，保證分壓測(cè)試的高準(zhǔn)確性

  ◆ 程序升溫脫氣：軟件控制程序升溫，室溫-400℃，精度優(yōu)于0.1℃；

  ◆ 極限真空：

  PＭ系列：１臺(tái)德國(guó)愛(ài)德華原裝進(jìn)口渦輪分子泵＋２臺(tái)原裝進(jìn)口機(jī)械泵，P/P0低至10-8

  ◆ 壓力測(cè)量：

  PM系列：每個(gè)測(cè)試位配多支0-1 torr以及0-1000 Torr壓力傳感器（0-0.1Torr可選）

  技術(shù)優(yōu)勢(shì) Technical Advantages

  ◆ 渦旋降塵原理的防污染**技術(shù)（**）； 

  ◆ 模塊化的氣路系統(tǒng)設(shè)計(jì)；

  ◆ 氣控閥加電磁閥組合應(yīng)用技術(shù)（真正零發(fā)熱）；

  ◆ 不銹鋼螺旋 P0（**）；

  ◆ P/P0 可達(dá) E-9, 分子泵； 

  ◆ 多級(jí)壓力傳感器；

   測(cè)試?yán)碚摚?/strong>

 ◆ 吸附、脫附等溫線測(cè)定； 

 ◆ BET比表面測(cè)定(單點(diǎn)/多點(diǎn)法)； 

 ◆ 朗格繆爾(Langmuir)比表面；

 ◆ 統(tǒng)計(jì)吸附層厚度法外比表面；

 ◆ BJH法孔容孔徑分布；

 ◆ MK-plate法(平行板模型)孔容孔徑分布；

 ◆ D-R法微孔分析；

 ◆ t-plot法(Boder)微孔分析；

 ◆ H-K法(Original)微孔分析；

 ◆ MP法(Brunauer) 微孔分析；

 ◆ 真密度測(cè)試；DFT孔徑分析、粒度估算報(bào)告。

 典型報(bào)告：