Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發射掃描電鏡搭載獨特的實時元素成像功能和先進的自動光學系統，實現灰色區域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身。

      Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高質量成像性能，采用了創新性的末級透鏡設計，引入靜電式末級透鏡，支持鏡筒內高分辨率檢測，即使是針對磁性樣品也可實現**成像及分析性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基礎之上，新一步優化了超高分辨成像能力，并且增設許多新功能提升其易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平臺上引入了SmartAlign（智能對中）技術，不再需要用戶手動進行調整操作，而且，FLASH自動執行精細調節工作，只需移動鼠標幾次，就可以完成必要的透鏡居中、消像散和聚焦矯正。此外，Apreo 2 SEM是**的在10mm分析工作距離下具有1nm分辨率的SEM，遠的工作距離不再意味著低分辨成像，系統還可升級實時元素譜/圖成像功能，徹底顛覆了幾十年來傳統SEM-EDS固有的元素分析流程，將元素分析效率提升2倍有余。 Apreo 2 SEM，任何用戶都可以輕松地得到**的分析效果。 

發射源：高穩定型肖特基場發射電子槍

分辨率：

加速電壓范圍：200 V ~ 30 kV
著陸電壓范圍：200 eV ~ 30 keV
探針電流范圍：1 pA ~ 50 nA，連續可調（可選配400 nA）
**水平視場寬度：10 mm WD時為3 mm（相當于*低放大倍率29倍）
X-Ray工作距離：10 mm，EDS檢出角35°
樣品室：從左至右為340mm寬的大存儲空間，樣品室可拓展接口數量12個，含能譜儀接口3個（其中2個處于180°對角位置）
樣品臺：五軸優中心全自動馬達驅動X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15o~90o,R=360o （連續旋轉）
多用途SEM樣品安裝載物臺，可同時放置 18 個標準樣品座（φ12mm）
探測器系統：
樣品室二次電子探測器ETD
鏡筒內背散射電子探測器T1
鏡筒內二次電子探測器T2
鏡筒內二次電子探測器T3（選配）
樣品室內IR-CCD紅外相機（觀察樣品臺高度）
圖像導航彩色光學相機Nav-Cam+?
樣品室低真空二次電子探測器（選配）
可伸縮透鏡下背散射探測器（選配）
控制系統：
操作系統：Windows 10
圖像顯示：24寸LCD顯示器，**顯示分辨率1920×1200
支持用戶自定義的GUI，可同時實時顯示四幅圖像
軟件支持Undo和Redo功能

☆ 全面解析

全面的納米和亞納米分辨率性能，適用于納米顆粒、粉末、催化劑、納米器件、大塊磁性樣品等材料；

☆ **的靈活性

非常靈活的處理范圍廣泛的樣品類型，包括絕緣體，敏感材料，或磁性樣品，并收集對您的應用*重要的數據；

☆ SmartAlign技術

使用SmartAlign技術(智能調整光學系統)，實現光學系統自動調整，減少維護時間；

☆ 先進的自動化

先進的自動化包括FLASH自動圖像微調、撤銷、用戶向導、Maps成像拼接的FLASH技術；

☆ 實時定量EDS

元素信息觸手可及，利用ColorSEM技術，提供實時元素面分布成像定量分析，結果獲取更加快速、簡便；

☆ 標準工作流操作
內置了User Guidance（用戶工作流）功能，無論是初學者還是經驗豐富，都能夠快速上手，并穩定獲取**的實驗數據。