粉體行業在線展覽
TOPCON拓普康芯片外觀檢測設備Vi4202
面議
佳鼎半導體
TOPCON拓普康芯片外觀檢測設備Vi4202
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TOPCON拓普康芯片外觀檢測設備Vi4202可以全自動檢查在晶片上圖案化的芯片和在擴展前切割的晶片(表面朝上/背面朝上)中的微小異物和缺陷,并以芯片為單位確定合格與否。
環境條件:
溫度范圍:20~27℃;
濕度范圍:50%±20%以內;
環境潔凈度:1000級;
安裝底板每個軸振幅:<64μm;
槽式清洗機 Ultron B200
單片式濕法清洗設備 Ultron S200/S300
全自動晶圓清洗機 AWS150
SCREEN二手清洗設備WS-820L
SUSS半自動濕法處理設備AD12
球差場發射透射電子顯微鏡 HF5000
超高分辨場發射掃描電子顯微鏡Regulus系列
AMAT 半導體檢測設備 SEMVision G2
KLA無圖案晶圓缺陷檢測系統Surfscan SP2
TOPCON拓普康芯片外觀檢測設備Vi4202
PVA TEPLA / TECHNICS GIGA 690二手現貨刻蝕機
PVA TEPLA / TECHNICS GIGABATCH 360M刻蝕機