SEMVision G2 的檢測組裝和處理使微小和淺缺陷的高質量地形圖像成為可能。高動態范圍檢測、背散射電子收集和能量過濾可實現高縱橫比成像。

基本信息：

型號：AMAT SEMVision G2 +

描述：缺陷審查系統

晶圓尺寸：300mm

序列號：多個系統可用

保修：按原樣或按客戶規格翻新

參數規格：

1 KeV 時的分辨率：3 nm

焦點圖/焦點偏移：90% 的缺陷，Delta Z < 3 μms

自動缺陷偏移/XY 圖：95% 的缺陷 Delta X < 1.5 μm 和 Delta Y < 1.5 μm

EDX 分辨率：4nm

晶圓產量：12 晶圓 / 小時

缺陷吞吐量：>1000 個缺陷/小時

正面清潔度：0.013 PWP / cm2 > 0.2 μm 處的尺寸

基本配置：

帶 ULPA 過濾器的 FFU

掃描電鏡柱 G2

EDX 柱

45 度立柱傾斜

包括晶圓旋轉選項

載物臺晶圓支架 3 PIN

對準器光學顯微鏡 X5、X20、X100

晶圓處理：

裝載機：帶 RFID 的 AMAT ADO

晶圓尺寸：300mm

ETU 300mm

國際電聯 300 毫米

軟件信息：

軟件版本（WS、IP/ODC SW、MEC、WHC）：v5.1.500 WorkStation SGI FULE

軟件版本（EDX）：VTG_5.0.107

系統性能：

Pal (On the OTW, cassette / Slot 1: Delta X= 500 μm; Delta Y= 500 μm

ITU Repeatability: Delta X and Delta Y < 20 μm

Stage accuracy: Delta X and Delta Y < 1.5 μm

MTR: Delta X= 50; Delta Y= 30 μm

其他設施信息：

**額定負載電流：8 A

滿載電流：10A

中斷電流：10,000 安培 IC

電源電壓：1-120 VAC，1-Ph，3 線 208 V，3-Ph，5 線，50/60 Hz