粉體行業(yè)在線展覽
AOI光學檢測
面議
鴻浩半導體
AOI光學檢測
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核心技術(shù):
**光學設計達到業(yè)界*低信噪比
**AI影像比對技術(shù),漏檢率達到*低
結(jié)合光學及影像處理技術(shù),在高反光背景材料和透明材料上均能清晰檢測待測物
先進性:
采用**雙非球面鏡頭設計,搭配光學系統(tǒng)設計以及AI影像比對技術(shù),顯著提升AOI設備3D檢測能力,Z軸解析度可達2um,漏檢率低至<0.3%。
技術(shù)完全自主,可根據(jù)客戶需求針對不同產(chǎn)品檢測做定制化設計,協(xié)助客戶達到高良率與**品質(zhì)
簡介: 核心技術(shù): **光學設計達到業(yè)界*低信噪比 **AI影像比對技術(shù),漏檢率達到*低 結(jié)合光學及影像處理技術(shù),在高反光背景材料和透明材料上均能清晰檢測待測物 先進性: 采用**雙非球面鏡頭設計,搭配光學系統(tǒng)設計以及AI影像比對技術(shù),顯著提升AOI設備3D檢測能力,Z軸解析度可達2um,漏檢率低至<0.3%。 技術(shù)完全自主,可根據(jù)客戶需求針對不同產(chǎn)品檢測做定制化設計,協(xié)助客戶達到高良率與**品質(zhì)
品牌: Honhor
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統(tǒng)
金屬稱重檢測一體機
在體皮膚拉曼分析儀
BSD-PB(氣液法)
佐竹攪拌扭矩測試儀
HTR
片式電容四參數(shù)測試機
0~10%糖度