粉體行業在線展覽
晶圓表面及邊緣檢測設備-SEDI
面議
芯暉裝備
晶圓表面及邊緣檢測設備-SEDI
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| 產品型號 | |
| 應用場景 | |
| 檢測缺陷 | |
| 檢測精度 | |
| 產能 | 85 WPH@300mm |
| 產品特點 | 微粒檢測、缺陷分布、不良分類、ADC |
| 晶圓直徑 | Ф6″、Ф8″、Ф12″(尺寸可定制) |
| 產品型號 | |
| 應用場景 | |
| 檢測缺陷 | |
| 檢測精度 | |
| 產能 | 85 WPH@300mm |
| 產品特點 | 微粒檢測、缺陷分布、不良分類、ADC |
| 晶圓直徑 | Ф6″、Ф8″、Ф12″(尺寸可定制) |
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