粉體行業在線展覽
晶圓隱裂外觀檢測設備(ADS)
面議
芯暉裝備
晶圓隱裂外觀檢測設備(ADS)
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適用于成型、拋光工藝段,應用明場及紅外檢測原理進行無圖形晶圓的正反面及內部無法肉眼觀測的隱裂缺陷檢測,具備崩邊、劃傷、線痕、化學臟污、隱裂等微小缺陷的檢出能力
晶圓銅霧離子檢查設備-HD
晶圓表面及邊緣檢測設備-SEDI
晶圓邊緣檢測設備-EDI
XV1152 測試平臺
晶圓隱裂外觀檢測設備(ADS)
XB1152 測試平臺
晶圓隱裂外觀邊緣檢測設備-ADSE
金屬污染物M-SPEC系列
離子污染物I-SPEC系列
有機污染物O-SPEC系列
200mm硅片研磨設備
300mm硅片研磨設備