粉體行業在線展覽
XV1152 測試平臺
面議
芯暉裝備
XV1152 測試平臺
398
| 應用場景 | NAND/NOR Flash |
| Test Speed | 同測數高達1152 個DUTS |
| Image Capture Speed | 每個DUT分配獨立的5個pins, 2 DR pins + 1 I/O pin + 1 HV pin + 1 Power Pin |
| 工作頻率 | 20 MHz |
| HV pin電壓范圍 | -4 ~ 28 V |
| 電源范圍 | 0 ~ 4 V 400MA 每個DUT |
晶圓銅霧離子檢查設備-HD
晶圓表面及邊緣檢測設備-SEDI
晶圓邊緣檢測設備-EDI
XV1152 測試平臺
晶圓隱裂外觀檢測設備(ADS)
XB1152 測試平臺
晶圓隱裂外觀邊緣檢測設備-ADSE
金屬污染物M-SPEC系列
離子污染物I-SPEC系列
有機污染物O-SPEC系列
200mm硅片研磨設備
300mm硅片研磨設備