粉體行業在線展覽
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臺式薄膜厚度測量系統
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科毅科技股份有限公司
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科毅科技
臺式薄膜厚度測量系統
427
F20 系列
世界上*暢銷的臺式薄膜厚度測量系統
只需按下一個按鈕，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率。
設置同樣簡單，只需插上設備到您運行Windows?系統電腦的USB接口，并連接樣品平臺，F20已在世界各地有成千上萬的應用被使用。
事實上，我們每天從我們的客戶學習更多的應用。
選擇F20主要取決于您需要測量的薄膜的厚度（確定所需的波長范圍）
包含的內容：
集成光譜儀/光源裝置
FILMeasure 8 軟件
FILMeasure 獨立軟件(用于遠程數據分析)
SS-3 樣品平臺
參考材料
厚度標準
整平濾波器(用于高反射基板)
備用燈
型號規格
| 型號 | 厚度範圍* | 波長範圍 |
|---|---|---|
| F20 | 15nm - 70μm | 380-1050nm |
| F20-EXR | 15nm - 250μm | 380-1700nm |
| F20-NIR | 100nm - 250μm | 950-1700nm |
| F20-UV | 1nm - 40μm | 190-1100nm |
| F20-UVX | 1nm - 250μm | 190-1700nm |
| F20-XT | 0.2μm - 450μm | 1440-1690nm |
| F3-sX 系列 | 10μm - 3mm | 960-1580nm |
